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賽默飛世爾科技（中國）有限公司
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賽默飛（原FEI）Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡

價(jià)格：￥300萬-400萬
品牌：賽默飛 產(chǎn)地：捷克 型號(hào)：Apreo 樣本：來電或留言獲取樣本
AI問答
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參數(shù)規(guī)格
產(chǎn)地類別：進(jìn)口 供應(yīng)商性質(zhì)：生產(chǎn)商 價(jià)格范圍：300萬-400萬
電子槍類型：冷場發(fā)射
詳細(xì)介紹

Apreo

功能最為豐富的高性能 SEM


Apreo 復(fù)合透鏡結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生前所未有的高分辨率和材料對比度。


Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái)，而不會(huì)降低磁性樣品性能。傳統(tǒng)的高分辨率 SEM 透鏡技術(shù)分為兩類：磁浸沒或靜電。FEI 首次將兩種技術(shù)結(jié)合到一個(gè)儀器中。這樣做所產(chǎn)生的成效遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過任一種鏡筒的個(gè)體性能。兩種技術(shù)均使電子束形成細(xì)小探針，以提高低電壓下的分辨率，并使信號(hào)電子進(jìn)入鏡筒。通過將磁透鏡和靜電透鏡組合成一個(gè)復(fù)合透鏡，不但提高了分辨率，還增加了特有的信號(hào)過濾選項(xiàng)。靜電-磁復(fù)合末級(jí)透鏡在 1 kV 電壓下的分辨率為 1.0 nm（無電子束減速或單色器）。


Apreo 擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品以便盡可能多地收集信號(hào)，從而確保在很短的時(shí)間內(nèi)采集數(shù)據(jù)。與其他背散射探測器不同，這種快速的探測器始終可保證良好的材料對比度，在導(dǎo)航時(shí)、傾斜時(shí)或工作距離很短時(shí)也不例外。在敏感樣品上，探測器的價(jià)值凸現(xiàn)出來，即使電流低至幾 pA，它也能提供清晰的背散射圖像。復(fù)合末級(jí)透鏡通過能量過濾實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的材料對比度以及絕緣樣品的無電荷成像，進(jìn)一步延伸了 T1 BSE 探測器的潛在價(jià)值。它還提供了流行選項(xiàng)來補(bǔ)充其探測能力，例如定向背散射探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器 (GAD)。所有這些探測器都擁有獨(dú)一無二的軟件控制分割功能，以便根據(jù)需求選擇最有價(jià)值的樣品信息。


每個(gè) Apreo 都按標(biāo)準(zhǔn)配備各種用以處理絕緣樣品的策略，包括：高真空技術(shù)，例如 SmartSCAN?、漂移補(bǔ)償幀積分(DCFI) 和電荷過濾。對于最有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用，Apreo 可提供電荷緩解策略。其中包括可選的低真空（最高為 500 Pa）策略，通過經(jīng)現(xiàn)場驗(yàn)證的穿鏡式差分抽氣機(jī)構(gòu)和專用低真空探測器，不但可以緩解任何樣品上的電荷，還能提供絕佳的分辨率和較大的分析電流。


隨著分析技術(shù)的使用越來越常規(guī)化，Apreo 倉室經(jīng)過全新設(shè)計(jì)，以便更好地支持不同的配件和實(shí)驗(yàn)。倉室最多容納三個(gè) EDS/WDS 端口，可實(shí)現(xiàn)快速敏感的 X 射線測量、共面EDS/EBSD/TKD 排列并與（冷凍）CL、拉曼、EBIC 和其他技術(shù)兼容。


所有這些功能都能通過簡單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得，節(jié)省了新用戶和專家級(jí)用戶的時(shí)間。可自定義的用戶界面提供了諸多用戶指導(dǎo)、自動(dòng)化和遠(yuǎn)程操作選項(xiàng)。


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注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途。

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