織構及取向差分析 EBSD
織構及取向差分析
EBSD不僅能測量各取向在樣品中所占的比例,還能知道這些取向在顯微組織中的分布,這是織構分析的全新方法。EBSD可應用于取向關系測量的范例有:推斷第二相和基體間的取向關系、穿晶裂紋的結晶學分析、單晶體的完整性、微電子內連使用期間的可靠性、斷口面的結晶學、高溫超導體沿結晶方向的氧擴散、形變研究、薄膜材料晶粒生長方向測量
EBSD測量的是樣品中每一點的取向,那么不同點或不同區(qū)域的取向差異也就可以獲得,從而可以研究晶界或相界等界面。
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