硅漂移(SDD)陣列探測器X射線能譜測量診斷
采用最新的SDD探測器陣列測量HL-2A托卡馬克等離子體軟X射線(1～20keV)輻射的能譜,獲得電子溫度、Zeff、重金屬雜質(zhì)含量絕對值及其時(shí)、空分布。由于SDD探測器較之傳統(tǒng)的Si(Li)探測器有體積小、計(jì)數(shù)率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷卻的特點(diǎn),并采用高速ADC和海量緩存器,電子溫度測量的時(shí)、空分辨能力接近湯姆遜散射和ECE等方法,而測量精確度、使用壽命、造價(jià)、抗干擾能力、適應(yīng)性等方面優(yōu)于后者,且信息獲取量大,可獲得多種等離子體參數(shù)而備受重視,是一種最先進(jìn)的診斷手段。?
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