透射電鏡樣品制備方法
透射電鏡試樣制備：
一、實驗內容及目的：了解透射電鏡對試樣的要求，熟悉透射電鏡試樣的制備過程，制備一個合格的透射 電鏡試樣。
二、薄膜樣品的制備：用于透射電鏡下觀察的試樣厚度要求在50-200nm 之間，對于不導電的陶瓷材料和脆性材料，最終減薄可采用離子減薄法。
該法是用離子束在樣品的兩側以一定的傾角（5-30）轟擊樣品，使之減薄。由于陶瓷樣品硬度高，耐腐蝕，因此，離子減薄的時間長。對于要求較高的金屬薄膜樣品，在雙噴后再進行一次離子減薄，效果會更好。
預減薄
預減薄的目的在于使圓片的中心區域進一步減薄，以確保最終在圓片的中心部位穿孔(其邊緣附近區域可供觀察)，預減薄通常采用專用的機械研磨機，使中心區域減薄至約10μm厚，借助于微處理器控制的精密研磨有時可以獲得使電子束透明的厚度(<1μm)．有時也用化學方法進行預減薄。
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