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液質聯用中的質譜——串聯質譜篇(上)

2023.9.19

  在連接了前面的離子源、離子傳輸后,質譜的質量分析器還可以空間或時間的方式進行串聯分析(MS/MS或MSn)。此時,第一個質量分析器用于選擇與分離母離子(Parent Ion,又稱前體離子Precursor Ion),被選擇的母離子碎裂后產生子離子(Daughter Ion,又稱產物離子Product Ion)及中性碎片。子離子被傳送到第二個質量分析器中分析獲得MS2。離子阱和FTICR型串聯質譜儀還可選擇MS2譜圖中的某個子離子,將其選擇與分離后再次碎裂為MS3,甚至得到更多級的MSn。實際應用中僅靠空間串聯一般只能獲得MS2,而加入阱類(離子阱、FT-ICR)等時間串聯分析器后可以獲得MSn。當然多次碎裂后,離子的數目會快速遞減,造成信號過低無法檢測。本文舉幾例常見的串聯質譜儀,篇幅較長分為上、中、下三篇。

  三重四極桿質譜儀

  三重四極桿質譜儀(串聯四極桿質譜儀)是目前最廣泛使用的空間串聯質譜儀。最早的設計是采用三組四極桿(Q),但只有Q1和Q3具有質量分析功能,以組合射頻和直流電位的方式進行質量選擇;Q2用作碰撞室,僅以射頻電位方式操作,讓不同質量的離子均能通過,并實現離子的聚焦。在許多商品儀器中,Q2已不是四極桿,前面介紹的用于離子傳輸的Q0也有很多不是四極桿。

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三重四極桿質譜儀示意圖

  Q2碰撞室一般充入氦氣或氮氣,氣體壓力約10-3 mbar,和分析物離子發生碰撞,碰撞能量數量級約在百電子伏特內。這種碰撞稱為碰撞誘導解離(Collision-Induced Dissociation,CID),有時也稱為碰撞活化解離(Collision-Activated Dissociation)。實驗中可以選擇碰撞能量,一般來說質荷比越大所需碰撞能量越高。所以在三重四極桿質譜做定量工作時,可以針對分析物不同的母離子來優化碰撞能量,找到比較適合的碰撞能量。

  三重四極桿質譜儀之所以使用最為廣泛,是由于它最適合于定量分析。根據目標物實現定量分析后,一般可以將方法普及為標準,就會有更多人使用。適合定量分析的原因有幾點:首先,在所有的質量分析器中,只有磁質譜和四極桿適合于連續流分析,其它都是秒沖式傳入離子。四極桿非常“忠實”于液相流入的連續流,沒有在非脈沖的時間間隔里丟失離子。其次,四極桿可以精確地選擇離子并傳送到后面的四極桿或檢測器,對于目標物分析來說非常可靠。第三,如果四極桿工作在SIM(選擇離子監測)或MRM(多重反應監測)模式時,分析通量/速度非常高,而上述模式正是定量所需要的。第四,在液質聯用中,基質比氣質聯用更為復雜,在Q1選擇離子后,可以大幅降低基質背景的干擾,而當Q2也選擇離子后,即以MRM方式采集信號時,去除了絕大部分背景,定量的靈敏度非常高。

  時間串聯質譜儀

  串聯質譜法可以在某些具有離子儲存功能的質量分析器上進行,其離子在不同時間點,可分別進行母離子選擇后儲存、離子活化(激發、解離)、子離子分離、掃描后排除扽該模式,這類儀器包括離子阱(包括三維離子阱和線性離子阱)、FT-ICR,它們通常可進行MSn。離子阱和FT-ICR的不同在于,FT-ICR采用感應檢測、離子不必送出ICR池,因此可以連續檢測每一個階段的子離子;而離子阱需要將離子送出阱檢測,因此只能檢測一次子離子。即如果要檢測MS3,FT-ICR可以連續獲得MS、MS2、MS3譜圖,離子阱只能獲得MS3譜圖。

  三維離子阱進行串聯質譜分析的步驟主要包括預掃描和分析掃描,分析掃描包括:離子注入,選擇隔離,活化碰撞碎裂,掃描推出檢測。預掃描主要用以計算單位時間的離子流量,來推算離子注入的時間,以避免離子進入過多產生空間電荷效應,預掃描的程序稱為自動增益控制(Auto Gain Control,AGC)。

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離子阱串聯質譜全譜圖掃描的時間程序圖

  在定性鑒定時,我們常希望獲得全掃描MS/MS譜圖,這時離子阱質譜儀的靈敏度優于三重四極桿質譜儀。比如在各種多組學的應用中,離子阱更多被使用。然而離子阱分析器受限于低質量截止(Low Mass Cut-off,LMCO)效應,碎裂后的低質量碎片離子將無法穩定于離子阱內,使得串聯質譜遺失部分結構信息。此外,離子阱中,母離子是被以本征頻率相同的射頻激發活化而產生碎裂,且解離后的碎片離子已冷卻而無法再次碎裂;三重四極桿的碎片離子則可以持續遭遇碰撞活化而再次碎裂。比如,有時有些化合物容易形成脫水峰,即母離子脫水后的碎片為主要子離子,無法獲得更進一步的分子結構信息。這時可用寬帶激發(WideBand Activation)功能,使能量帶寬涵蓋母離子及子離子的共振激發頻率,使子離子形成后再度被激發活化碎裂,獲得豐富的結構信息。

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離子阱質譜的寬帶激發獲得的MS/MS,上圖僅看到較強的脫水峰,下圖可得到豐富的結構信息

  新一代的線性離子阱質譜儀是由兩段相同的線性離子阱串聯組成,前后兩段離子阱的差異在于其在不同的氣壓環境下操作。離子阱中導入氣體(如氦氣)可以借由碰撞冷卻來提升捕獲效率,進而提升分辨率,同時作為碰撞氣。在單段式線性離子阱中,各項離子操作及檢測在同一空間進行,因此為兼顧各項操作的效率,需選擇一個折衷的優化氣壓(2.0×10-3~3.0×10-3 Torr),在此氣壓下,離子捕獲效率約為60%。兩段式串接的線性離子阱中間以一片具有直徑2.5mm小孔的隔板電極,分隔前后兩端離子阱內部的氣壓。前端阱為高壓阱(約5.0×10-3 Torr),可用于捕獲、選擇隔離、碰撞裂解離子,好處包括:(1)捕獲效率可提升至90%以上,而捕獲效率越高,填滿離子阱所需時間越短,因此可大幅縮短掃描循環時間。(2)對于碰撞活化來說,在相同的碎裂效率下所需時間可從35毫秒縮短至10毫秒。(3)離子碎裂效率提升,因此可提高MSn的靈敏度。

  第二段線性阱是低壓阱(3.5×10-4 Torr),進行質量分析(母離子-子離子掃描、共振推出阱)操作,低壓環境提供較快的掃描速度及較高的分辨率。在相同分辨率下,兩段式線性阱的掃描速度約是單段阱的2倍。除此之外,前后兩端可同時進行不同的程序,即后段阱掃描離子時,前段阱在準備下一個循環的離子捕獲、激發、碎裂,因此兩段式線性阱可大幅縮短掃描循環所需的時間。

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兩段式二維線性離子阱質譜儀示意圖

  四極桿-飛行時間質譜儀(Q-TOF MS)

  在串聯質譜儀中,如果不同種類的質量分析器串聯,則稱為雜合質譜儀(Hybrid Mass Spectrometer,或復合質譜儀)。四極桿-飛行時間質譜儀(Q-TOF MS)結合了四極桿和TOF的優勢,1995年推出第一臺商品化儀器后,很快成為受歡迎的雜合質譜儀。

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四極桿-飛行時間雜合質譜儀(Q-TOF MS)示意圖

  Q-TOF質譜儀的Q1和Q2區類似三重四極桿的功能,母離子在Q2碰撞室碎裂后產生的子離子,進入TOF中完成MS/MS的串聯分析。商品化的Q-TOF多采用脈沖式正交加速設計。Q-TOF還可彈性搭配MALDI或ESI源。

  比較三重四極桿QqQ和Q-TOF質譜儀,在子離子全譜掃描分析時,QqQ的Q3四極桿掃描記錄任何一個質荷比的工作周期(Duty Cycle)很低,甚至可低于0.1%,因此靈敏度低;而將Q3改為TOF來記錄全譜圖,因為離子是同時間記錄,Duty Cycle高于QqQ,因此子離子掃描模式下,Q-TOF比QqQ靈敏度高。但當QqQ工作在SRM(選擇反應監測)模式下時,對于被選擇的質荷比的Duty Cycle可達100%,這時QqQ的靈敏度很高;而對于Q-TOF,即使采用SRM,靈敏度和子離子掃描也沒有什么區別。

  當然Q-TOF的Duty Cycle很難達到100%,因為一次脈沖推出后,必須等待所有離子抵達檢測器后才會施加再一次的脈沖推出離子,相鄰兩次的脈沖均有時間間隔。大部分正交加速設計的Q-TOF的Duty Cycle約為5%~30%,取決于質荷比、掃描質量范圍、儀器硬件參數等。較新的儀器設計,多以設置具有離子堆積功能的裝置(Ion Gate)或具有離子儲存功能的線性離子阱來提高Duty Cycle。比如,布魯克的TimsTOF系列采用的離子淌度裝置兼有儲存離子的功能,SCIEX的ZenoTOF系列也采用了Zeno阱,Waters的SELECT Series,島津的RF carpet trap均有類似設計。接下來會專門介紹離子淌度技術。

  目前,商品化的Q-TOF質譜儀的TOF分辨率大概為20,000~80,000,Waters新推出的MRT系統,TOF利用了多反射的原理,可以達到優于20萬的分辨率。

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SELECT SERIES MRT質譜示意圖,TOF中進行多次反射

接下來請見下篇:液質聯用中的質譜:串聯質譜(中)

目錄:

前言:液質聯用(LC-MS)簡述

Chapter1、液質聯用中的液相色譜

Chapter2、液質聯用中的質譜

2.1離子源

2.2離子傳輸

2.3 質量分析器

2.4串聯質譜(Tandem Mass Spectrometry,MS/MS)

2.5 檢測器

2.6 真空系統

Chapter3、液質聯用中的數據采集和分析

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