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JADE軟件分析處理XRD數據---問題解答

束蘊儀器
2022.4.24

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?2022年四月舉辦的主題為“JADE軟件分析處理XRD數據”網絡研討會,由JADE創始人周榮生博士主講,主要講解了XRD數據背景處理、物相檢索、定量分析、Rietveld精修、粉末XRD數據解析結構等,受到了廣大師生及相關科研工作者的歡迎,聽眾現場也提出了很多具有代表性的問題,主要問題解答如下:

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1. 做金屬氧化物粉末的全譜擬合時,JADE軟件中,圖峰擴展選擇的原則是什么?什么情況下選擇單獨的半高寬曲線?什么情況下選擇擬合晶粒大小和應變?

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答:要看分析的需求,來選擇相應的選項,如果關注晶粒大小和應變的話,那就選擇“擬合晶粒大小和應變”。需要指出的是,在JADE中分析數據,如果選擇“擬合晶粒大小和應變”,需要建立一個標準的儀器曲線,在建立的儀器曲線之上,再通過卷積的方式,準確計算出晶粒大小和應變,如果晶粒尺寸超過500A的話,應該就不是特別準確了。如果選擇“擬合單獨半高寬曲線”,通常需要有三個參數f0,f1和f2(半高寬=f0+f1*2θ+f2*2θ^2)才能擬合出低角度到高角度的半高寬曲線,通常半高寬曲線為開口向上的拋物線,正常衍射儀,低角度半高寬高一些,中間角度低,到高角度半高寬又上升了,優勢在于參數少,對于同時精修多個物相,有衍射峰重疊導致峰寬太寬的時候,有些衍射峰強度消失在背景中等情況,“擬合單獨半高寬曲線”的參數少,可以很好的擬合。

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2. DD法定量分析時,需要考慮RIR的值嗎?

答:不需要,DD法定量分析的時候,完全靠的是化學式來進行定量分析的。使用DD法來做定量分析的時候,為確保有較高的準確度,應注意以下幾點:

1)收集XRD圖的范圍要盡可能的大,盡可能收集的更多衍射峰;

2)各個物相之間晶胞體積差異不要太大;

3)各個物相之間元素序數差異不要太大;

比如對稱性高的、晶胞體積小的物相在小于90°衍射峰個數比較少,對稱性低的、晶胞體積大的物相在小于90°衍射峰個數比較多,不同物相總的衍射能力的百分比在一定的范圍內比例不一樣,則采用DD法做的定量分析準確度就會降低。此外還受到溫度因子影響,原子序數差異導致原子對X射線的散射能力不同,重的原子和輕的原子在不同角度對X射線的衰減能力不一樣,也會影響到DD法定量分析的準確度。

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3. 多次WPF擬合時,結果差別比較大,是為什么?

答:如果多次擬合,擬合后如果R值差別比較大或者物相相對含量差別比較大的話,可能原因:(1)物相選取的不對;(2)精修的時候,精修的參數太少或者太多,有些精修參數之間是相互關聯的;JADE中有個比較有用的功能,共通>> EPS&CC 中來顯示精修的各個參數之間的關聯度,對于有些關聯很強烈的參數,有可能對整體精修的R值影響不大,但是對重量比的分析結果卻影響很大,精修的過程主要是減小差異圖的過程,如果在衍射峰重疊嚴重的地方,修改某些精修參數會對精修的差異圖影響較小,倒是對其他的分析結果比如重量比可能會影響的比較大。

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4. PDF卡片號和CCDC號有什么關聯?怎么通過PDF卡片號查找CCDC號,或者通過CCDC號查找PDF卡片號?

答:PDF-4 Organic數據庫中收錄了CCDC的單晶結構數據,PDF卡片號以02開頭的,結構數據的來源是CCDC數據庫,但是PDF卡片號和CCDC號沒有任何關聯,目前PDF卡片庫中可以通過化學式、化合物名稱等方式PDF卡片,在PDF卡片中也有包含對應的CCDC的號碼。

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5. 在全圖擬合中(WPF)如何來選擇峰型函數?

JADE軟件中,在WPF模塊有三個峰型函數可以選。(1)仿Voigt函數,即PV函數,是高斯函數和洛倫茲函數的組合,可以精修混合因子,一般適用于大部分的峰型擬合,比如衍射峰頂不太尖銳,衍射峰左側拖尾不太嚴重的情況下,選項仿Voigt函數;如果有些峰型,如中子衍射,為純的高斯函數,則只能選擇仿Voigt函數來模擬衍射峰;(2)皮爾遜VII函數,為增強洛倫茲函數,但是可以精修斜因子函數;(3)FCJ模型,主要適用于軸心發散導致的低角度衍射峰左側有嚴重的拖尾現象,即衍射峰有嚴重的不對稱。

如果不清楚要選擇那個函數的話,可以在WPF精修的過程中,選擇不同的函數來觀測R值,選擇R值最小的函數即可。

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在峰型擬合中,選擇峰型函數除了WPF中的三個函數外,第四個峰型函數為“分隔皮爾遜VII”,主要適用于峰型嚴重不對稱的情況下,衍射峰分開模擬。

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提示:在精修之前,如果不知道選擇哪個峰型函數時,一般可以放大某個衍射峰,在“擬合峰”的功能中,選擇不同擬合函數分別進行峰擬合,來觀測精修后R值的情況,選擇R值最低的峰型函數。

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6. 在物相檢索的過程中,對于PDF卡片庫沒有收錄的物相,自建的CIF文件如何導入到PDF卡片數據庫中?

答:PDF卡片數據庫不允許客戶增加物相條目,但是在JADE軟件中支持用戶使用CIF文件來自建數據庫,菜單欄中選擇:數據庫>>建立結構數據庫,在“自制晶體結構數據中管理窗”中,新建CSD數據庫,將CIF文件讀取到JADE中并計算d-I 列表,用戶即成功自建數據庫。

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用戶自建的數據庫可用于物相檢索,Rietveld精修等,在物相檢索的過程中,用戶自己的數據將自動出現在JADE界面右下角數據庫選擇列表中。

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7. 在晶胞參數精修過程中,如何判斷結果是否準確?那些參數影響權重較大?

答:通常在XRD精修過程中,晶胞參數一般精修的比較準確,主要觀察精修的峰位即可。在JADE軟件中,為精確精修晶胞參數,特意設定了無結構精修晶胞參數的功能,在WPF窗口中,右擊物相,選擇“無結構物相”精修。

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在選用“無結構物相”精修晶胞參數的過程中,(1)一定要注意零點漂移、樣品位移對衍射峰位的影響因素;(2)準確精修衍射峰面積,只有峰面積精修的準確了,衍射峰的峰位才會準。選用“無結構物相”精修晶胞參數表明只對關注衍射峰的位置,不關注衍射峰的強度,好處在于可以精修單個衍射峰的面積,此時精修的晶胞參數會非常準確。

影響權重的因素有,峰型函數、背景曲線、如何處理多相中重疊峰的問題等。

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8. 如何在物相檢索過程中,導入特定的PDF卡片數據?

答:在做物相檢索的過程中,JADE支持根據PDF卡片號、物相名稱、礦物族等導入特定的PDF卡片數據,該功能在物相檢索模塊中“物相查找工具欄”中可以實現。

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9. XRD數據定量計算的時候,如何處理由于吸收造成的影響?或者說什么時候需要考慮吸收的問題?

答:基本上粉末衍射的話,吸收問題不太存在。樣品如果研磨的比較細的話,顆粒大小差距小的話,微觀吸收的效果在粉末XRD中基本中不存在;如果粉末樣品中,不同物相的粉末顆粒大小差距比較大的時候,超過幾個微米的話,可能造成微觀吸收,即顆粒大小不均勻的話,在JADE中有補正的方法,在WPF窗口中,wt%熒光的對話框中,選擇“Brindley吸收校正”。

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1)如果在研磨樣品的過程中,有樣品的粘結等現象,需要考慮吸收校正。

2)如果不同物相之間吸收系數(μ)差異達到5倍以上的話,需要考慮微觀吸收。

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3)如果樣品研磨的尺寸小于1-2微米的話,基本上不用考慮微觀吸收。

4)如果用的是無背景樣品架上,撒了一層薄薄的粉末時,需要考慮吸收矯正。

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10. 如何判斷精修結果已經達到最佳?

答:(1)首先要觀察導出的差異曲線,JADE中在差值曲線中可以顯示標準偏差值(±3δ),下圖中的虛線所示;如果差異曲線在標準偏差范圍內,表明精修的結果還不錯;

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2)R/E 值,E為期望的最小的R值即Rexp,R為Rwp,一般R/E值小于2,精修的結果就比較不錯了,如果R/E小于1.5為理想的狀態。當然前提條件是選擇合適的物相和結構數據,才能分析的結果比較靠譜。

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11, 如何通過擬合估算晶粒結晶大小?

答:(1)這個功能在峰型擬合中,選取某個或某幾個衍射峰進行擬合,前提是做好一個標準的儀器曲線,挑選上合適的背景曲線、峰型函數等,這樣估算的晶粒尺寸會比較準。

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2)可以采用鼠標功能中的“Kα2”功能,通過滾動鼠標的滾輪,來擬合晶粒大小。如下圖中位于25.3°的衍射峰所示,要求要有個標準的峰型函數。

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3)JADE中還有個方法,可以將晶粒大小和應變引起的半高寬分開,在擬合峰的功能下,將XRD圖中所有的衍射峰進行擬合后,查看晶粒大小和應變的分析結果。

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12. 在多個物相定量分析過程中,如何區分物相重疊位置的峰位?

1)JADE通過不同的顏色來區分不同物相對應的衍射峰位;

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2)JADE中可以顯示不同物相的衍射峰分峰擬合的結果,同樣采用不同顏色進行區分;

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3)JADE中可以單相顯示某個物相的衍射峰擬合情況;

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13. 精修的話,XRD數據有什么要求?

1)樣品結晶良好,衍射峰較銳;

2)樣品沒有顯著的擇優取向問題;

3)角度信息準確;

4)衍射峰計數較高(最強峰計數最好高于1萬),數據統計性好;

5)收集的角度范圍盡可能大(對銅靶而言收集角度 2theta一般不低于120°),以使盡可能多的高分辨率衍射數據包含在精修過程中。

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文章轉自:國際衍射數據中心ICDD

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