透射電鏡（TEM）的基本原理
透射電子顯微鏡是以波長極短的電子束作為照明源，用電磁透鏡聚焦成像的一種高分辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。透射電子顯微鏡是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上（片狀< 100 nm，顆粒< 2 um），電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。圖片的明暗不同（黑白灰）與樣品的原子序數(shù)、電子密度、厚度等相關(guān)。成像方式與光學(xué)顯微鏡相似，只是以電子代替光子，電磁透鏡代替玻璃透鏡，放大后的電子像在熒光屏上顯示出來。
透射電子顯微鏡按加速電壓分類，通常可分為常規(guī)電鏡(100kV)、高壓電鏡(300kV)和超高壓電鏡(500kV以上)。提高加速電壓，可提高入射電子的能量，一方面有利于提高電鏡的分辨率；同時又可以提高對試樣的穿透能力。
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綜述
