GB 35007-2018
半導體集成電路低電壓差分信號電路測試方法
Semiconductor integrated circuit low voltage differential signal circuit testing method
- 標準號
- GB 35007-2018
- 發布
- 2018年
- 總頁數
- 37頁
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB 35007-2018
- 適用范圍
- 本標準規定了半導體集成電路低電壓差分信號電路靜態參數、動態參數測試方法的基本原理。本標準適用于低電壓差分信號電路靜態參數、動態參數的測試。