BS ISO 13067:2020
微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測(cè)量
Microbeam analysis. Electron backscatter diffraction. Measurement of average grain size
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- BS ISO 13067:2020
- 發(fā)布
- 2020年
- 發(fā)布單位
- 英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
- 當(dāng)前最新
- BS ISO 13067:2020
- 適用范圍
- ISO 13067 是什么？ ISO 13067 是一項(xiàng)討論電子背散射衍射微束分析的國際標(biāo)準(zhǔn)。 ISO 13067 規(guī)定了使用背散射衍射 (EBSD) 測(cè)量二維拋光橫截面平均晶粒尺寸的程序。 ISO 13067 要求測(cè)量取向、迷失方向和圖案質(zhì)量因數(shù)作為晶體樣品中位置的函數(shù)。 ISO 13067 適合誰？關(guān)于電子背散射衍射的 ISO 13067 適用于：