GB/T 25897-2020
剩余電阻比測量鈮-鈦（Nb-Ti）和鈮三錫（Nb3Sn）復合超導體剩余電阻比測量

Residual resistance ratio measurement—Residual resistance ratio of Nb-Ti and Nb3Sn composite superconductors

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本標準規定了無應變、無外加磁場條件下銅(Cu)、銅-鎳(Cu -Ni)、銅/銅-鎳(Cu/Cu -Ni)基體和鋁(Al)基體的鈮-鈦(Nb -Ti)和鈮三錫(Nb3Sn)復合超導體剩余電阻比(RRR)的測試方法。本標準適用于2

術語
剩余電阻比	Residual Resistivity Ratio
低溫電阻(R2)	Low-temperature Resistance (R2)
室溫電阻(R1)	Room-temperature Resistance (R1)

圓柱形樣品架用于測量線圈形Nb-Ti樣品，直徑需足夠大以確保樣品的彎曲應變不超過2%。	由銅(Cu)、鋁(Al)、銀(Ag)或其他在液氦溫度下熱導率等于或大于100W/(m·K)的材料制成。
平板狀樣品架用于測量直線形Nb-Ti或Nb3Sn樣品，長度至少為30mm。	確保Nb3Sn樣品在無應變或僅在可允許的熱應變條件下進行測量。
低溫恒溫容器包括樣品支撐結構和液氦容器，支持樣品的浸沒和提出。	用于測量低溫電阻(R2)，確保電流通過樣品并測量電壓。