GB/T 19799.3-2025
無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè)試塊 第3部分：曲面檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊
Non-destructive testing - Ultrasonic testing test blocks - Part 3: Standard test blocks for curved surface testing
GBT19799.3-2025, GB19799.3-2025
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 19799.3-2025
- 別名
- GBT19799.3-2025, GB19799.3-2025
- 發(fā)布
- 2025年
- 總頁(yè)數(shù)
- 27頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 19799.3-2025
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 12604.1 GB/T 20737 GB/T 41114-2021
- 適用范圍
- 本文件規(guī)定了測(cè)量曲面斜探頭入射點(diǎn)、折射角、零點(diǎn)和材料聲速的曲面檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊的尺寸、材料、制作要求，描述了探頭操作試塊的使用方法。本文件適用于曲面檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊，其他類型的金屬材料曲面試塊也可參考使用。
| 術(shù)語(yǔ) | 描述 |
|---|---|
| 曲面檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 Curved Surface Testing Standard Block | 一種用于校準(zhǔn)和測(cè)試超聲波探頭在曲面材料中性能的標(biāo)準(zhǔn)工具。 |
| 入射點(diǎn) Incident Point | 超聲波探頭與試塊表面接觸點(diǎn)，影響檢測(cè)結(jié)果的關(guān)鍵參數(shù)。 |
GB/T 19799.3-2025 中提到的儀器設(shè)備
| 曲面檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 多種規(guī)格，如凸曲面和凹曲面試塊。 | 用于校準(zhǔn)超聲波探頭在曲面材料中的性能參數(shù)。 |
| 直探頭 標(biāo)稱中心頻率不低于10 MHz，晶片尺寸為10 mm~15 mm。 | 用于檢測(cè)試塊內(nèi)部聲學(xué)性能的直線型探頭。 |