將電子束聚焦到樣品上﹐不但能觀察20～30A的組織形貌細節﹐并可以從X射線能譜分析及電子能量損失譜中得出這么微小區域的化學成分﹐從微區電子衍射得到它的晶體結構數據﹐這是近幾年來電子顯微學中發展較快的領域﹐稱為分析電子顯微學(analytical electron microscopy﹐簡寫為AEM)。 ...
·由于具有極高分辨率，可方便地獲得晶格條紋像乃至高分辨的原子像，結合選區電子衍射等手段可以對微區的晶體學特征、缺陷結構等進行詳細的研究。 ·由于TEM具有很高的加速電壓，電子束能量較高，可以激發出很多信號，使得TEM可以配備多種其他分析手段以獲得樣品更全面的信息。 ·TEM由于其成像電子束穿透樣品，在合適的制樣條件下可以有效反映出孔道結構、空心結構等的特點。 ...
STEM分析圖 入射電子束照射試樣表面發生彈性散射，一部分電子所損失能量值是樣品中某個元素的特征值，由此獲得能量損失譜(EELS)，利用EELS可以對薄試樣微區元素組成、化學鍵及電子結構等進行分析。...
Gatan & EDAX中國應用專家 陸暢博士 Gatan & EDAX中國應用專家陸暢博士作題目為“直接電子探測在原位透射電鏡表征中的應用”的報告。陸暢博士首先介紹了原位EELS（能量損失電子譜）在透射電鏡表征中的應用。在原位條件下，EELS能夠實時觀察材料在特定環境或受到某種刺激后的化學變化，為材料性能的研究提供有力工具。四維掃描透射電子顯微術（4D STEM）的發展及其在材料科學中的應用。...
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