國際標準化組織，關于質譜中相對強度的標準 ISO 17862-2013 表面化學分析.次級離子質譜法.單離子計數飛行時間質量分析器強度標的線性 ISO 23830-2008 表面化學分析.次級離子質譜測定法.靜態次級離子質譜測定法中相對強度數值范圍的重復性和穩定性 法國標準化協會，關于質譜中相對強度的標準 NF X21-064-2009 表面化學分析.次級離子質譜測定法.靜態次級離子質譜測定法中相對強度數值范圍的重復性和穩定性...
序號應用領域標準號標準中文名稱發布日期實施日期首次制定/替代1分析儀器GB/T 43663-2024表面化學分析 二次離子質譜 靜態二次離子質譜相對強度標的重復性和一致性2024/3/152024/10/1首次制定2動物營養GB/T 43714-2024飼料中泰拉霉素的測定 液相色譜-串聯質譜法2024/3/152024/10/1首次制定3食品GB/T 43448-2023蜂蜜中17-三十五烯含量的測定...
二次離子質譜是一種具有超高分辨率和靈敏度的固體表面分析技術。它可以分析氫元素到鈾元素在內的所有元素和同位素，還可以得到固體表面官能團和分子結構等信息。SIMS可以分為靜態SIMS（SSIMS）和動態SIMS（DSIMS）兩種類型，通過不同掃描類型，得到二次離子質譜圖、化學成像、動態深度剖析曲線等?！ ?..
帶有幾千電子伏特能量的一次離子轟擊樣品表面，在轟擊的區域引發一系列物理及化學過程，包括一次離子散射及表面原子、原子團、正負離子的濺射和表面化學反應等，產生二次離子，這些帶電粒子經過質量分析分析后得到關于樣品表面信息的質譜，簡稱二次離子質譜。...
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