GB/T 4937-1995
半導體器件機械和氣候試驗方法
Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices
GBT4937-1995, GB4937-1995
2007-02
- 標準號
- GB/T 4937-1995
- 別名
- GBT4937-1995, GB4937-1995
- 發布
- 1995年
- 總頁數
- 32頁
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 替代標準
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- 當前最新
- GB/T 4937.1-2006
- GB/T 4937.2-2006
- 適用范圍
- 本標準列出了適用于半導體器件（分立器件和集成電路）的試驗方法。使用時可從中進行選擇。對于非空腔器件，可以要求補充的試驗方法。 注：非空腔器件是指器件結構中封裝材料與管芯的所有暴露表面緊密接觸且沒有任何空間的器件。 本標準已盡可能考慮了IEC 68《基本環境試驗規程》。