GB/T 6798-1996
半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法的基本原理
Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage comparators
GBT6798-1996, GB6798-1996
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 6798-1996
- 別名
- GBT6798-1996, GB6798-1996
- 發(fā)布
- 1996年
- 總頁數(shù)
- 29頁
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 6798-1996
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- GB 6798-1986
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路電壓比較器（以下簡稱器件）電特性測(cè)試方法的基本原理。 本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路電壓比較器電特性的測(cè)試。
| 術(shù)語 | 描述 |
|---|---|
| 輸入失調(diào)電壓 Input Offset Voltage | 使輸出電壓達(dá)到規(guī)定值時(shí)所需施加在兩輸入端的直流補(bǔ)償電壓。 |
| 開環(huán)增益 Open-Loop Gain | 輔助放大器在未形成反饋回路時(shí)的增益。 |
GB/T 6798-1996 中提到的儀器設(shè)備
| 電流表 A1, A2 | 測(cè)量電源的正負(fù)電流，用于計(jì)算靜態(tài)功耗。 |
| 輔助放大器 | 用于測(cè)試電路，提供必要的信號(hào)和增益以輔助測(cè)量輸入失調(diào)參數(shù)。 |
