GB/T 17574-1998
半導(dǎo)體器件 集成電路 第2部分;數(shù)字集成電路
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits
GBT17574-1998, GB17574-1998
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- GB/T 17574-1998
- 別名
- GBT17574-1998, GB17574-1998
- 發(fā)布
- 1998年
- 總頁數(shù)
- 123頁
- 采用標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 748-2:1985 IDT
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 17574-1998
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)給出了下列各類或各分類器件的標(biāo)準(zhǔn)： --組合和時序數(shù)字電路； --存儲器集成電路； --微處理器集成電路； --電荷轉(zhuǎn)移器件。
GB/T 17574-1998 中提到的儀器設(shè)備
| 示波器 適用于高速數(shù)字電路測試的示波器 | 用于測量和分析電路中的電壓和電流變化，支持多種輸入信號類型的捕捉與顯示 |
其他標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 14114-1993 半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器測試方法的基本原理
GB/T 14115-1993 半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理
GB/T 14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理
GB/T 4586-1994 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分:場效應(yīng)晶體管
GB/T 6571-1995 半導(dǎo)體器件 分立器件 第3部分:信號(包括開關(guān))和調(diào)整二極管
GB/T 16464-1996 半導(dǎo)體器件 集成電路 第1部分;總則
GB/T 4377-1996 半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法的基本原理
GB/T 17864-1999 關(guān)鍵尺寸(CD)計量方法
GB/T 17940-2000 半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分:模擬集成電路
GB/T 15651.2-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第5-2部分;光電子器件基本額定值和特性
GB/T 15651.3-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分;光電子器件測試方法
GB/T 5729-2003 電子設(shè)備用固定電阻器 第1部分;總規(guī)范
GB/T 5993-2003 電子設(shè)備用固定電容器 第4部分;分規(guī)范 固體和非固體電解質(zhì)鋁電容器
GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分: 試驗方法.試驗Ga和導(dǎo)則: 穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h＋12h循環(huán))
GJB 733B-2011 有失效率等級的非固體電解質(zhì)鉭固定電容器通用規(guī)范
GB/T 4377-2018 半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測試方法
GJB 7705-2012 DSP測試方法
GB/T 14028-2018 半導(dǎo)體集成電路 模擬開關(guān)測試方法