IEC 62373:2006
金屬氧化物半導體場效應管(MOSFET)的基本溫度穩定性試驗
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
- 標準號
- IEC 62373:2006
- 發布
- 2006年
- 總頁數
- 36頁
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 62373:2006
- 被代替標準
- IEC 47/1862/FDIS:2006
- 適用范圍
- 本國際標準提供了金屬氧化物半導體、場效應晶體管（MOSFET）的偏置溫度（BT）穩定性測試的測試程序。