JIS K 0212:2007
分析化學(xué)用術(shù)語(yǔ)(光學(xué)部分)
Technical terms for analytical chemistry (optical part)
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- JIS K 0212:2007
- 發(fā)布
- 2007年
- 發(fā)布單位
- 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0212:2016
- 當(dāng)前最新
- JIS K 0212:2016
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0050 JIS K 0115 JIS K 0116 JIS K 0117 JIS K 0119 JIS K 0120 JIS K 0121 JIS K 0211 JIS K 0214 JIS K 0215 JIS K 3600 JIS Z 8120
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0212:1990
- 適用范圍
- 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了分析化學(xué)光學(xué)部分使用的主要術(shù)語(yǔ)和定義。本標(biāo)準(zhǔn)涵蓋的術(shù)語(yǔ)是指從 X 射線到太熒光的波長(zhǎng)范圍。然而，與電磁分析相關(guān)的術(shù)語(yǔ)（包括 X 射線衍射分析）被排除在外。