X射線(xiàn)熒光的激發(fā)源使用X射線(xiàn)而不使用電子束，因?yàn)槭褂肵射線(xiàn)避免了樣品過(guò)熱的問(wèn)題。幾乎所有的商品X射線(xiàn)熒光光譜儀均采用封閉的X射線(xiàn)管作為初始激發(fā)光源。某些較簡(jiǎn)單的系統(tǒng)可能使用放射性同位素源，而電子激發(fā)一般不單獨(dú)使用在X射線(xiàn)熒光光譜儀中，它僅限于在電子顯微鏡中X射線(xiàn)熒光分析中使用。X射線(xiàn)熒光譜儀具有快速...
本文評(píng)述了我國(guó)在2005年至2006年X射線(xiàn)熒光光譜,包括粒子激發(fā)的X射線(xiàn)光譜的發(fā)展和應(yīng)用,內(nèi)容包括儀器研制、激發(fā)源、探測(cè)器、軟件、儀器改造、儀器維護(hù)和維修、樣品制備技術(shù)、分析方法研究和應(yīng)用。?更多還原...
一臺(tái)典型的X射線(xiàn)熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數(shù)量。 然后，儀器...
X射線(xiàn)熒光光譜分析（X?Ray?Fluorescence，XRF）是固體物質(zhì)成分分析的常規(guī)檢測(cè)手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。由于整體技術(shù)和分光晶體研制發(fā)展所限，早期的X射線(xiàn)熒光光譜儀檢測(cè)范圍較窄，靈敏度較差。隨著測(cè)角儀、計(jì)數(shù)器、光譜室溫度穩(wěn)定等新技術(shù)的進(jìn)步，使現(xiàn)代X射線(xiàn)熒光光譜儀的測(cè)量...
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