ASTM E915-10
殘余應(yīng)力測(cè)量用X射線衍射儀校準(zhǔn)檢定的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
Standard Test Method for Verifying the Alignment of X-Ray Diffraction Instrumentation for Residual Stress Measurement
說(shuō)明：
- 此圖僅顯示與當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)最近的5級(jí)引用；
- 鼠標(biāo)放置在圖上可以看到標(biāo)題編號(hào)；
- 此圖可以通過(guò)鼠標(biāo)滾輪放大或者縮小；
- 表示標(biāo)準(zhǔn)的節(jié)點(diǎn)，可以拖動(dòng)；
- 綠色表示標(biāo)準(zhǔn)：ASTM E915-10 ， 綠色、紅色表示本平臺(tái)存在此標(biāo)準(zhǔn)，您可以下載或者購(gòu)買(mǎi)，灰色表示平臺(tái)不存在此標(biāo)準(zhǔn)；
- 箭頭終點(diǎn)方向的標(biāo)準(zhǔn)引用了起點(diǎn)方向的標(biāo)準(zhǔn)。
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- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ASTM E915-10
- 發(fā)布
- 2010年
- 總頁(yè)數(shù)
- 4頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E915-16
- 當(dāng)前最新
- ASTM E915-21
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E11
該測(cè)試方法提供了一種驗(yàn)證儀器對(duì)準(zhǔn)的方法，以便量化和最小化 X 射線衍射殘余應(yīng)力測(cè)量中的系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)誤差。該方法適用于傳統(tǒng)衍射儀或發(fā)散或平行光束類型的 X 射線衍射儀器。 ，該測(cè)試方法的應(yīng)用需要使用無(wú)應(yīng)力材料的平坦樣本，該樣本在用于應(yīng)力測(cè)量的衍射峰的角區(qū)域中產(chǎn)生衍射。樣品必須足夠細(xì)晶粒和各向同性，以便大量的單個(gè)晶體有助于產(chǎn)生衍射峰。晶體必須在所有傾斜角 ...