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GB/T 25185-2010
表面化學分析.X射線光電子能譜.荷電控制和荷電校正方法的報告

Surface chemical analysis.X-ray photoelectron spectroscopy.Reporting of methods used for charge control and charge correction

GBT25185-2010, GB25185-2010


標準號
GB/T 25185-2010
別名
GBT25185-2010, GB25185-2010
發布
2010年
總頁數
15頁
采用標準
ISO 19318:2004 IDT
發布單位
國家質檢總局
當前最新
GB/T 25185-2010
 
 
引用標準
GB/T 22461-2008 GB/T 22571-2008
適用范圍
本標準以最少量的資料描述了用X射線光電子能譜測量絕緣樣品內能級結合能,及將在報告其分析結果時所采用的荷電控制和荷電校正方法,也給出了在結合能測量過程中對于荷電控制和荷電校正有用的方法資料。
術語描述
結合能
Binding Energy
電子與原子核之間結合的強度,單位為eV。
FWHM
Full Width at Half Maximum
光電子能譜中峰的最大值的一半處的寬度,單位為eV。

GB/T 25185-2010 中提到的儀器設備

電子中和槍 用于產生低能量電子以中和樣品表面電荷的裝置。
紫外燈 通過紫外線輻照生成低能電子,幫助中和表面電荷。

專題


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