ASTM E766-14e1
用于校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ASTM E766-14e1
- 發(fā)布
- 2014年
- 總頁(yè)數(shù)
- 6頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 美國(guó)材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E766-14(2019)
- 當(dāng)前最新
- ASTM E766-14(2019)
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E177 ASTM E29 ASTM E456 ASTM E691 ASTM E7
- 適用范圍
- 1.1 本實(shí)踐涵蓋了掃描電子顯微鏡放大倍數(shù)校準(zhǔn)所需的一般程序。真實(shí)放大倍率和指示放大倍率之間的關(guān)系是操作條件的復(fù)雜函數(shù)。2因此，這種做法必須應(yīng)用于要使用的每組標(biāo)準(zhǔn)操作條件。 1.2 以 SI 單位表示的值被視為標(biāo)準(zhǔn)值。本標(biāo)準(zhǔn)不包含其他計(jì)量單位。
1.3 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。