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掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣

本專題涉及掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)有93條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣涉及到信息技術(shù)用語言、光學(xué)設(shè)備、電子顯示器件、長度和角度測量、建筑材料、無損檢測、分析化學(xué)、鋼鐵產(chǎn)品、光學(xué)和光學(xué)測量、涂料和清漆、道路工程、熱力學(xué)和溫度測量、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、攝影技術(shù)、土質(zhì)、土壤學(xué)、涂料配料、空氣質(zhì)量、集成電路、微電子學(xué)、半導(dǎo)體材料、絕緣材料、外部污水排放系統(tǒng)、建筑構(gòu)件、焊接、釬焊和低溫焊。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣涉及到程序語言、放大鏡與顯微鏡、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、混凝土、集料、灰漿、砂漿、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、鋼鐵與鐵合金分析方法、材料防護(hù)、犯罪鑒定技術(shù)、電磁計(jì)量、感光材料、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、油、氣處理設(shè)備、公共醫(yī)療設(shè)備、無線電計(jì)量、半導(dǎo)體集成電路、化合物半導(dǎo)體材料、電工絕緣材料及其制品、供水、排水器材設(shè)備、金屬無損檢驗(yàn)方法、焊接與切割、半導(dǎo)體分立器件綜合、電影與攝影技術(shù)。


美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E766-14 掃描電子顯微鏡放大倍率校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)方法
  • ASTM E986-04 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E986-04(2010) 掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E986-97 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E986-04(2017) 掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E766-98(2008)e1 掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)校正規(guī)范
  • ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關(guān)人工標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E766-14(2019) 校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM C1723-16(2022) 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1723-10 用掃描電子顯微鏡檢驗(yàn)硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM C1723-16 用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E766-14e1 用于校準(zhǔn)掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E1813-96e1 掃描探測顯微鏡探頭測量和報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E1813-96(2002) 掃描探測顯微鏡探頭測量和報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E1813-96(2007) 掃描探測顯微鏡探頭測量和報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E2142-08(2015) 用掃描電子顯微鏡評定和分類鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2142-08 用掃描電子顯微鏡分級和分類鐵中內(nèi)含物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2142-08(2023) 用掃描電子顯微鏡評定和分類鋼中夾雜物的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM B748-90(2010) 掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2809-13 在法醫(yī)油漆檢查中使用掃描電子顯微鏡/X射線光譜法的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM B748-90(2021) 用掃描電子顯微鏡測量橫截面測量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D7000-11(2017) 瀝青乳液表面處理樣品掃描試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2603-15 固定電池差示掃描量熱儀校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM E1588-95(2001) 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-08 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-10 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2142-01 利用掃描電子顯微鏡測定鋼中雜質(zhì)的額定值和分級的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1588-95 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D7000-19 乳化瀝青表面處理樣品的掃描試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D7000-19a 乳化瀝青表面處理樣品的掃描試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM B748-90(2001) 通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM E312-02 攝影樣片條件的描述和選擇標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E1728-02 測定鉛含量的擦式掃描取樣法現(xiàn)場收集積塵樣品的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)范
  • ASTM F1372-93(1999) 用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡(SEM)的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM E1588-20 通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進(jìn)行槍支殘留分析的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐
  • ASTM F1372-93(2020) 用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡(SEM)的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM D605-82(1996)e1 用電子顯微鏡掃描測定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6059-96(2011) 用電子顯微鏡掃描測定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E280-98(2004)e1 在法醫(yī)聚合物檢驗(yàn)中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜(SEM/EDS)的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-07 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2809-22 在法醫(yī)聚合物檢驗(yàn)中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜(SEM/EDS)的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM F1372-93(2012) 氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡 (SEM) 分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E1588-07e1 用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測定法的射擊殘留物分析用標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM F1372-93(2005) 氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡(SEM)分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E280-21 在法醫(yī)聚合物檢驗(yàn)中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜(SEM/EDS)的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2090-00 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E2090-12 利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM F1438-93(1999) 用于氣體分配系統(tǒng)部件掃描隧道顯微鏡測定表面粗糙度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM F1438-93(2020) 用于氣體分配系統(tǒng)部件掃描隧道顯微鏡測定表面粗糙度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM E1728-99 用原子光譜技術(shù)測定鉛含量的掃描取樣法現(xiàn)場收集積塵樣品的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)范
  • ASTM F1438-93(2012) 使用氣體分配系統(tǒng)組件中掃描隧道顯微鏡測定表面粗糙度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM D6966-13 用原子光譜法技術(shù)測量鉛含量的掃描取樣法現(xiàn)場收集積塵樣品的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM F1530-94 用自動(dòng)無觸點(diǎn)掃描法測量硅片平整度、厚度和厚度變化的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM E3309-21 用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法(SEM/EDS)報(bào)告法醫(yī)底漆槍彈殘留物(pGSR)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E2090-06 使用光學(xué)和掃描電子顯微鏡從潔凈室刮水器釋放的顆粒和纖維的尺寸分化計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM E2090-12(2020) 使用光學(xué)和掃描電子顯微鏡從潔凈室刮水器釋放的顆粒和纖維的尺寸分化計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM A717/A717M-12 單片樣品表面絕緣電阻率的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
  • ASTM F2550-06 使用電掃描電流流經(jīng)管壁時(shí)的變化定位污水管漏縫的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM E3284-23 使用掃描電子顯微鏡/能量分散X射線光譜法(SEM/EDS)對底火殘留物(pGSR)進(jìn)行法醫(yī)檢驗(yàn)的培訓(xùn)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D7954/D7954M-15a(2021) 用無損電阻抗掃描儀測量屋頂和防水系統(tǒng)濕度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM B773-96 用超聲波C掃描測定釬焊或焊接電觸點(diǎn)組件的粘接性的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM D7954/D7954M-22 用無損電阻抗掃描儀測量屋頂和防水系統(tǒng)的濕度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D7954/D7954M-22a 用無損電阻抗掃描儀測量屋頂和防水系統(tǒng)的濕度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D7954/D7954M-15a 用無損電阻抗掃描儀測量屋頂和防水系統(tǒng)的濕度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM B773-96(2002)e1 用超聲波C掃描測定釬焊或焊接電觸點(diǎn)組件的粘接性的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM B773-96(2008) 用超聲波C掃描測定釬焊或焊接電觸點(diǎn)組件的粘接性的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM E1588-10e1 掃描電子顯微術(shù)/能量散射X射線光譜法射擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
  • ASTM F1620-96 使用單分散聚苯乙烯乳膠球沉積在拋光或外延片表面的方法校準(zhǔn)表面掃描檢驗(yàn)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范
  • ASTM E312-06(2011) 使用模擬(膠片)相機(jī)和數(shù)字靜止相機(jī)(DSC)對攝影樣片條件進(jìn)行描述和選擇的標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程
  • ASTM D7954/D7954M-14 使用無損電阻抗掃描儀對屋面和防水系統(tǒng)進(jìn)行水分測量的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
  • ASTM D7954/D7954M-15 使用無損電阻抗掃描儀對屋面和防水系統(tǒng)進(jìn)行水分測量的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐規(guī)程
  • ASTM E312-06 使用模擬相機(jī)和數(shù)字靜止相機(jī)的攝影樣片條件描述和選擇標(biāo)的準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡(TIFF/SEM)的標(biāo)記圖像文件格式
  • BS ISO 13083:2015 表面化學(xué)分析. 掃描式探針顯微術(shù). 電子掃描式探針顯微術(shù) (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 11039:2012 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.漂移率的測定標(biāo)準(zhǔn)
  • ISO 13083:2015 表面化學(xué)分析. 掃描式探針顯微術(shù). 電子掃描式探針顯微術(shù) (ESPM), 例如用于二維摻雜成像等用途的SSRM和SCM, 中空間分辨率的定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

美國電氣電子工程師學(xué)會(huì),關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • ST 96:2004 ST 96:2004 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 電視 35 毫米和 16 毫米電影膠片 掃描圖像區(qū)域
  • SMPTE ST 96:2004 ST 96:2004 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 適用于電視“35 毫米和 16 毫米電影膠片”掃描圖像區(qū)域
  • SMPTE ST 295:1997 ST 295:1997 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 用于電視 1920×1080 50 Hz 掃描和接口
  • SMPTE ST 16:1998 ST 16:1998 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 用于電視模擬錄制“1-in B 型螺旋掃描”記錄
  • ST 293:2003 ST 293:2003 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 電視 720 × 483 Active Line,59.94 Hz 逐行掃描制作 數(shù)字表示
  • SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 用于電視模擬錄制“1-in B 型螺旋掃描”基本系統(tǒng)參數(shù)
  • SMPTE ST 293:2003 ST 293:2003 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 對于電視 720×483 59.94-Hz 逐行掃描制作的有源線”數(shù)字表示
  • SMPTE ST 17:1998 ST 17:1998 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 用于電視模擬錄制“1-in B 型螺旋掃描”頻率響應(yīng)和操作電平
  • SMPTE ST 294:2001 ST 294:2001 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 用于電視 720×483 59.94-Hz 逐行掃描制作的有源線”位串行接口
  • ST 294:2001 ST 294:2001 SMPTE 標(biāo)準(zhǔn) 用于電視 720 × 483 活動(dòng)線路,59.94 Hz 逐行掃描生產(chǎn) 位串行接口

國家計(jì)量檢定規(guī)程,關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • JJG 48-2004 硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片
  • JJG 48-1990 硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定規(guī)程

國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范,關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • JJF 1760-2019 硅單晶電阻率標(biāo)準(zhǔn)樣片校準(zhǔn)規(guī)范

美國國防后勤局,關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • DLA SMD-5962-96812 REV A-2003 雙極互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體,10-BIT掃描端口多支路標(biāo)準(zhǔn)1149.1接收器,硅單片電路數(shù)字微電路

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì),關(guān)于掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)樣的標(biāo)準(zhǔn)

  • NF EN ISO 14096-1:2020 無損檢測 X 射線膠片掃描系統(tǒng)的鑒定 第 1 部分:定義、圖像質(zhì)量參數(shù)的定量測量、標(biāo)準(zhǔn)化參考膠片和質(zhì)量控制

 

可能用到的儀器設(shè)備

 

Thermo Scientific? Nunc? 條形碼掃描器

Thermo Scientific? Nunc? 條形碼掃描器

賽默飛世爾科技(中國)有限公司

 

Thermo Scientific? 二維編碼掃描儀

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賽默飛世爾科技(中國)有限公司

 

Thermo Scientific? 二維編碼掃描儀

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賽默飛世爾科技(中國)有限公司

 

 




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