測量光纖
本專題涉及測量光纖的標(biāo)準(zhǔn)有30條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，測量光纖涉及到光纖通信、電容器、電工和電子試驗(yàn)。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，測量光纖涉及到光通信設(shè)備、光電子器件綜合、印制電路。
美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于測量光纖的標(biāo)準(zhǔn)
- ANSI/TIA-455-123-2000 測量光纖帶尺寸
- ANSI/TIA/EIA 455-48B-1990 用激光測量儀測量光纖連皮直徑
- ANSI/TIA-455-131-1997 測量光纖帶殘余扭曲度
- ANSI/TIA/EIA 455-61A-2000 用OTDR測量光纖或電纜衰減
- ANSI/TIA/EIA 455-59-A-2000 使用一個OTDR測量光纖點(diǎn)缺陷
- ANSI/TIA-455-133-A-2003 利用相移法測量光纖或光纜的長度
- ANSI/TIA-455-48B-1990 利用激光儀器測量光纖包覆層直徑
- ANSI/TIA/EIA-455-28С-1999 通過張力測量光纖的動態(tài)強(qiáng)度和疲勞參數(shù)
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于測量光纖的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 18311.26-2007 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第3-26部分:檢查和測量 光纖和插針軸線間的角偏差的測量
- GB/T 18311.40-2003 纖維光學(xué)互連器件和無源器件 基本試驗(yàn)和測量程序 第3-40部分;檢查和測量-帶保偏光纖尾纖連接器的消光比
TIA - Telecommunications Industry Association，關(guān)于測量光纖的標(biāo)準(zhǔn)
- EIA/TIA-455-59-1989 FOTP-59 使用 OTDR 測量光纖點(diǎn)缺陷
- EIA/TIA-455-61-1989 FOTP-61 使用 OTDR 測量光纖或電纜衰減
- TIA/EIA-455-76-1993 用張力測量光纖動態(tài)疲勞的方法
- EIA/TIA-455-60-1989 FOTP-60 使用 OTDR 測量光纖或電纜長度
- TIA/EIA-455-133-1998 FOTP-133 用相移法測量光纖或光纜的長度
- TIA-455-133-1998 FOTP-133 用相移法測量光纖或光纜的長度
- TIA/EIA-455-59A-2000 FOTP-59 使用 OTDR 測量光纖點(diǎn)不連續(xù)性
- EIA/TIA-455-48B-1990 FOTP-48 使用激光儀器測量光纖包層直徑
- EIA/TIA-455-60A-2000 FOTP-60 使用 OTDR 測量光纖或電纜長度
- TIA-455-59-A-2000 FOTP 59 使用 OTDR 測量光纖點(diǎn)不連續(xù)性
- TIA-455-28B-1991 FOTP-28測量光纖動態(tài)拉伸強(qiáng)度的方法
- TSB62-8-1998 ITM-8 測量光纖涂層中可提取材料量的程序
- EIA/TIA-455-49A-1989 FOTP-49 測量光纖和光纜中伽馬輻照效應(yīng)的程序
- TIA/EIA-455-64-1998 FOTP-64 測量光纖和光纜中輻射引起的衰減的程序
- TIA-455-10-1991 用于測量光纖涂層中可提取材料量的 FOPT-10 程序
- TIA/EIA-455-119-1997 FOTP-119 通過灰度分析測量光纖的涂層幾何形狀
美國電信工業(yè)協(xié)會，關(guān)于測量光纖的標(biāo)準(zhǔn)
- TIA EIA-455-48-B-1990(2014) 使用基于激光方法測量光纖包層直徑
臺灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于測量光纖的標(biāo)準(zhǔn)
- CNS 12563-1989 光纖裝置檢驗(yàn)法（用相位移法測量光纖色散ＦＯＴＰ–１６９）
- CNS 12369-1988 光纖裝置檢驗(yàn)法（測量光纖幾何之微觀方法ＦＯＴＰ–４５）
國際電工委員會，關(guān)于測量光纖的標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 62496-2-1:2011 光學(xué)電路板.第2-1部分:測量.光纖衰減和隔離
