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x射線衍射儀角度

本專題涉及x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)有117條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線衍射儀角度涉及到光學(xué)和光學(xué)測量、長度和角度測量、輻射防護(hù)、金屬材料試驗、塑料、無損檢測、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、粒度分析、篩分、分析化學(xué)、化工產(chǎn)品、金屬生產(chǎn)、非金屬礦、醫(yī)療設(shè)備、天文學(xué)、大地測量學(xué)、地理學(xué)、教育、無機(jī)化學(xué)、金屬礦、表面處理和鍍涂、有色金屬。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線衍射儀角度涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、化學(xué)計量、電離輻射計量、放射衛(wèi)生防護(hù)、金相檢驗方法、合成樹脂、塑料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、物性分析儀器、金屬無損檢驗方法、金屬化學(xué)分析方法綜合、非金屬礦、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、無機(jī)化工原料綜合、催化劑、醫(yī)用射線設(shè)備、教學(xué)專用儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、冶金輔助原料礦、催化劑基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、教育、學(xué)位、學(xué)銜、無機(jī)鹽、鐵礦、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、炭素材料綜合、實驗室基礎(chǔ)設(shè)備、炭素材料。


行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

RU-GOST R，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • GOST R 8.698-2010 確保測量一致性的國家體系.納米粒子和薄膜的空間參數(shù).利用小角度X-射線散射衍射儀的測量方法
  • GOST 22091.3-1984 X射線儀.X射線照射場尺寸和工作束張角測量方法
  • GOST 22091.14-1986 X射線儀.X射線能通量密度（光通量密度）測量方法
  • GOST 22091.7-1984 X射線儀.X射線輻射場能通量密度分布均勻性測量方法
  • GOST 22091.15-1986 X射線儀.電氣絕緣強(qiáng)度測試方法
  • GOST 25645.117-1984 銀河外的擴(kuò)散X射線輻射和伽瑪輻射.角度和能量的分布特性
  • GOST 25645.131-1986 銀河系的擴(kuò)散X射線輻射和伽瑪輻射.角度和能量的分布特性
  • GOST 22091.8-1984 X射線儀.光譜成分和光譜相對污染程度測量方法

國家計量檢定規(guī)程，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB 16355-1996 X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)
  • GB/T 13221-2004 納米粉末粒度分布的測定 X 射線小角散射法
  • GB/T 19421.1-2003 層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗方法 δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析 X射線衍射儀法
  • GB/Z 42358-2023 鐵礦石 波長色散X射線熒光光譜儀 精度的測定
  • GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性

工業(yè)和信息化部，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

衛(wèi)生部國家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • GBZ 115-2002 X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)

GSO，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角度X射線濺射法
  • ISO 17867:2020 粒度分析.小角度X射線散射（SAXS）
  • ISO/FDIS 23484 通過小角 X 射線散射（SAXS）測定顆粒濃度
  • ISO 23484:2023 通過小角 X 射線散射 (SAXS) 測定顆粒濃度
  • ISO 20804:2022 通過小角度X射線散射（SAXS）測定多孔和顆粒系統(tǒng)的比表面積
  • ISO/TR 18231:2016 鐵礦石. 波長色散X射線熒光光譜儀. 精度測定
  • ISO 15472:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電譜儀.能量刻度表校準(zhǔn)
  • ISO 15472:2001 表面化學(xué)分析 X射線光電譜儀 能量刻度表校準(zhǔn)
  • ISO 20203:2005 鋁生產(chǎn)中使用的碳素材料.煅燒焦炭.用X-射線衍射法測定煅燒石油焦的晶體粒度
  • ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 37983-2019 晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測試方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • YB/T 5337-2006 金屬點陣常數(shù)的測定方法 X射線衍射儀法
  • YB/T 5338-2006 鋼中殘余奧氏體定量測定 X射線衍射儀法
  • YB/T 5336-2006 高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

SCC，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-農(nóng)業(yè)，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS H 7805:2005 用X射線衍射儀測定金屬晶體中晶粒大小的方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-能源，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E915-96 殘余應(yīng)力測量用X射線衍射儀校準(zhǔn)檢定的測試方法
  • ASTM E915-16 殘余應(yīng)力測量用X射線衍射儀校準(zhǔn)檢定的測試方法
  • ASTM E915-96(2002) 殘余應(yīng)力測量用X射線衍射儀校準(zhǔn)檢定的測試方法
  • ASTM E915-19 殘余應(yīng)力測量用X射線衍射儀校準(zhǔn)驗證的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM E915-10 殘余應(yīng)力測量用X射線衍射儀校準(zhǔn)檢定的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM E915-21 殘余應(yīng)力測量用X射線衍射儀校準(zhǔn)驗證的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程
  • ASTM D5357-98 用X射線衍射法測定沸石鈉相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D8352-20 用X射線衍射法測定β沸石相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D5357-03(2008)e1 用X射線衍射法測定沸石鈉相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D5357-03(2013) 用X射線衍射法測定沸石鈉相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D5357-03 X射線衍射法測定A型沸石鈉相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D5357-19 X射線衍射法測定A型沸石鈉相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D5758-01(2021) 通過X射線衍射測定沸石ZSM-5的相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM D5758-01(2011)e1 使用X射線衍射法測定沸石ZSM-5相對結(jié)晶度的的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D3906-19 測定含浮石型沸石材料的相對X射線衍射強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D3906-03(2008) 測定八面沸石型含沸石材料的相對X射線衍射強(qiáng)度的試驗方法
  • ASTM D5758-01(2015) 通過X射線衍射法測定ZSM-5沸石的相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D3906-97 測定含有八面沸石的材料的相對X射線衍射強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D3906-03(2013) 測定八面沸石型含沸石材料的相對X射線衍射強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
  • ASTM D3906-03 八面沸石型包含沸石材料的相對X射線衍射強(qiáng)度的測定用標(biāo)準(zhǔn)試驗方法

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • DS/EN 13925-3:2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-海關(guān)，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • HS/T 12-2006 滑石、綠泥石、菱鎂石混合相的定量分析 X 射線衍射儀法

AENOR，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-醫(yī)藥，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

國家藥監(jiān)局，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • AS 2563:1996 波長色散X射線熒光光譜儀．精度測定
  • AS 2563:2019 鐵礦石 波長色散X射線熒光光譜儀 精密度測定

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • AS 2563:1996(R2016) 波長色散X射線熒光光譜儀 精度測定
  • ASTM RR-D32-1036 1993 D5357-通過X射線衍射測定A型沸石鈉相對結(jié)晶度的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
  • ASTM RR-D32-1010 1984 D3906-測定含八面沸石型沸石材料的相對 X 射線衍射強(qiáng)度的測試方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
  • JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則

工業(yè)和信息化部/國家能源局，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • JB/T 12962.3-2016 能量色散X射線熒光光譜儀 第3部分：鍍層厚度分析儀

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)

  • KS D ISO 3497-2002(2017) 金屬涂層 - 涂層厚度的測量 - X射線光譜儀的方法
  • KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性
  • KS M ISO 20203:2011 鋁生產(chǎn)中使用的碳素材料.煅燒焦炭.X.射線衍射法測定煅燒石油焦的晶體粒度
  • KS M ISO 20203:2016 鋁生產(chǎn)中使用的碳素材料 煅燒焦炭 X 射線衍射法測定煅燒石油焦的晶體粒度
  • KS D ISO 15472:2003 表面化學(xué)分析.X射線光電光譜儀.能量刻度的校正
  • KS D ISO 21270-2020 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
  • KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性

SE-SIS，關(guān)于x射線衍射儀角度的標(biāo)準(zhǔn)



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