微米 薄膜 度

本專題涉及微米 薄膜 度的標準有6條。

國際標準分類中，微米 薄膜 度涉及到農(nóng)業(yè)和林業(yè)、光學(xué)和光學(xué)測量、長度和角度測量、光學(xué)設(shè)備。

在中國標準分類中，微米 薄膜 度涉及到、基礎(chǔ)標準與通用方法、稀有金屬及其合金分析方法。

江蘇省標準，關(guān)于微米 薄膜 度的標準

• DB32/T 4378-2022 襯底表面納米、亞微米尺度薄膜 方塊電阻的無損測試 四探針法

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于微米 薄膜 度的標準

• GB/T 22462-2008 鋼表面納米、亞微米尺度薄膜.元素深度分布的定量測定.輝光放電原子發(fā)射光譜法

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關(guān)于微米 薄膜 度的標準

• GB/T 36969-2018 納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測定納米薄膜厚度的方法

韓國科技標準局，關(guān)于微米 薄膜 度的標準

• KS D 2715-2017 單晶和多晶納米/微米薄膜材料的拉伸試樣
• KS D 2715-2006(2011) 單和多晶納米的拉伸試樣/微薄膜材料
• KS D 2715-2006 單晶硅和多晶硅納米/微薄膜拉伸的試樣

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可能用到的儀器設(shè)備