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無機半導體遷移率

本專題涉及無機半導體遷移率的標準有10條。

國際標準分類中，無機半導體遷移率涉及到金屬材料試驗、半導體材料、半導體分立器件、電子電信設備用機電元件。

在中國標準分類中，無機半導體遷移率涉及到半金屬及半導體材料分析方法、金屬物理性能試驗方法、半導體分立器件綜合、半導體二極管。

國家質檢總局，關于無機半導體遷移率的標準

• GB/T 4326-2006 非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數測量方法
• GB 4326-1984 非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數測量方法

美國材料與試驗協會，關于無機半導體遷移率的標準

• ASTM F76-86(1996)e1 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數及霍爾遷移率的試驗方法
• ASTM F76-86(2002) 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數及霍爾遷移率的試驗方法
• ASTM F76-08 測量單晶半導體的電阻率、霍爾系數及霍爾遷移率的試驗方法
• ASTM F76-08(2016)e1 測量單晶半導體電阻率和霍爾系數及測定霍爾遷移率的標準試驗方法
• ASTM F76-08(2016) 測量電阻率和霍爾系數和測定單晶半導體中霍爾遷移率的標準試驗方法

英國標準學會，關于無機半導體遷移率的標準

• BS IEC 62951-2:2019 半導體器件 柔性可拉伸半導體器件 柔性器件電子遷移率、亞閾值擺幅和閾值電壓的評價方法

國際電工委員會，關于無機半導體遷移率的標準

• IEC 62951-2:2019 半導體器件.柔性和可伸展半導體器件.第2部分:柔性器件的電子遷移率、亞閾值擺幅和閾值電壓的評估方法
• IEC 62047-7:2011 半導體器件.微電機裝置.第7部分:無線電頻率控制和選擇用MEMS BAW濾波器和雙工器

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