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Grundlagen der Elektronenmikroskopie

Für die Grundlagen der Elektronenmikroskopie gibt es insgesamt 186 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Grundlagen der Elektronenmikroskopie die folgenden Kategorien: Optik und optische Messungen, Optische Ausrüstung, Schwei?en, Hartl?ten und Niedertemperaturschwei?en, analytische Chemie, Luftqualit?t, Umfangreiche elektronische Komponenten, Prüfung von Metallmaterialien, Elektronische Anzeigeger?te, Kohle, L?ngen- und Winkelmessungen, Oberfl?chenbehandlung und Beschichtung, Baumaterial, Rohstoffe für Gummi und Kunststoffe, Kriminalpr?vention, Stahlprodukte, Keramik, Farben und Lacke, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsger?te integriert, Papier und Pappe, Diskrete Halbleiterger?te.

Professional Standard - Machinery, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• JB/T 5586-1991 Klassifizierung und Grundparameter des Transmissionselektronenmikroskops

SE-SIS, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

International Organization for Standardization (ISO), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
• ISO/CD 19214:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtf?rmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 19214:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtf?rmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
• ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 10312:1995 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieaufl?sung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
• ISO 21363:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 13794:2019 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 10312:2019 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberfl?chenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Tr?gerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
• ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse durch Elektronenenergieverlustspektroskopie
• ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• ISO/CD 20263:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzfl?chenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
• ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien – 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzfl?chenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
• ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• ISO/FDIS 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 14966:2002/cor 1:2007 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode; Technische Berichtigung 1

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
• KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
• KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
• KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS I ISO 10312:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
• KS I ISO 13794:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
• KS I ISO 10312-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
• KS I ISO 13794-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie

Association of German Mechanical Engineers, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• DVS 2803-1974 Elektronenstrahlschwei?en in der Mikroskopie (Umfrage)
• VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus station?ren Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS M 8816:1992 Feste mineralische Brennstoffe – Methoden der mikroskopischen Messung von Mazeralen und Reflexionsgrad
• JIS K 3850-3:2000 Messmethode für luftgetragene Faserpartikel – Teil 3: Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
• JIS K 3850-2:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 2: Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie-Verfahren
• JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung

British Standards Institution (BSI), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
• BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
• BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergr??erung
• BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieaufl?sung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
• 18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
• BS ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
• BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
• 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• 20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieaufl?sung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
• 15/30292710 DC BS ISO 19214. Richtlinien zur Bestimmung der Wachstumsrichtung drahtf?rmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• BS ISO 13794:2019 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
• BS ISO 10312:2019 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
• 21/30404763 DC BS ISO 24639. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
• BS IEC 62977-2-1:2021 Elektronische Anzeigen. Messungen optischer Eigenschaften. Grundlegende Messungen
• PD ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien. 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
• BS ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Grenzfl?chenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
• BS ISO 14966:2002 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• BS PD ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien. 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• 18/30375050 DC BS ISO 14966. Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
• BS ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• 19/30394914 DC BS ISO 15632. Mikrostrahlanalyse. Ausgew?hlte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und überprüfung energiedispersiver R?ntgenspektrometer für den Einsatz im Elektronenstrahlmikroskop oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (EPMA)
• BS EN ISO 17751-2:2023 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• BS ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergr??erung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochaufl?sende Transmissionselektronenmikroskopie
• GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
• GB/T 28044-2011 Allgemeiner Leitfaden zur Nachweismethode für die biologische Wirkung von Nanomaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
• GB/T 18873-2002 Allgemeine Spezifikation des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) – quantitative Mikroanalyse mit r?ntgenenergiedispersivem Spektrum (EDS) für dünne biologische Proben
• GB/T 18873-2008 Allgemeiner Leitfaden zur quantitativen Mikroanalyse mit Transmissionselektronenmikroskop (TEM) und energiedispersiver R?ntgenspektrometrie (EDS) für dünne biologische Proben
• GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiedispersive Spektrometrie
• GB/T 17507-2008 Allgemeine Spezifikation dünner biologischer Standards für die R?ntgen-EDS-Mikroanalyse im Transmissionselektronenmikroskop
• GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
• GB/Z 26083-2010 Bestimmung von Kupfer(Ⅱ)-octaakoxyl-substituiertem Phthalocyanin auf Graphitoberfl?che (Rastertunnelmikroskop)
• GB/T 2679.11-2008 Papier und Karton. Qualitative Analyse von mineralischem Füllstoff und mineralischer Beschichtung. SEM/EDAX-Methode
• GB/T 2679.11-1993 Papier und Karton. Qualitative Analyse von mineralischen Füllstoffen und mineralischen Beschichtungen. SEM/EDAX-Methode

American Society for Testing and Materials (ASTM), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur gr??endifferenzierten Z?hlung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
• ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur gr??endifferenzierten Z?hlung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
• ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgr??e von Rasterelektronenmikroskopen
• ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E3143-18a Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
• ASTM E3143-18 Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
• ASTM E3143-18b Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
• ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
• ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
• ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
• ASTM D3849-13 Standardtestmethode für Ru?mdash; Morphologische Charakterisierung von Ru? mittels Elektronenmikroskopie
• ASTM D3849-14 Standardtestmethode für Ru?mdash; Morphologische Charakterisierung von Ru? mittels Elektronenmikroskopie
• ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM D3849-95a(2000) Standardtestmethode für Ru? – Prim?raggregatabmessungen aus elektronenmikroskopischer Bildanalyse
• ASTM D3849-07 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ru? mittels Elektronenmikroskopie
• ASTM D3849-22 Standardtestmethode für Ru? – Morphologische Charakterisierung von Ru? mittels Elektronenmikroskopie
• ASTM E3143-18b(2023) Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
• ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergr??erung eines Rasterelektronenmikroskops
• ASTM D3849-02 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ru? mittels Elektronenmikroskopie
• ASTM D3849-04 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ru? mittels Elektronenmikroskopie
• ASTM D3849-14a Standardtestmethode für Ru? – Morphologische Charakterisierung von Ru? mittels Elektronenmikroskopie
• ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM D7201-06(2020) Standardverfahren zur Probenahme und Z?hlung luftgetragener Fasern, einschlie?lich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
• ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
• ASTM D7201-06(2011) Standardverfahren zur Probenahme und Z?hlung luftgetragener Fasern, einschlie?lich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
• ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM E2142-01 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
• ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
• ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM E1588-95(2001) Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
• ASTM E1588-08 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
• ASTM E1588-10 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
• ASTM E1588-95 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
• ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM D5756-02 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassenkonzentration
• ASTM D5756-95 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassenkonzentration
• ASTM F1372-93(1999) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberfl?chenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
• ASTM F1372-93(2020) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberfl?chenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
• ASTM D5755-95 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Konzentrationen der Asbeststrukturzahl
• ASTM D5755-02 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Konzentrationen der Asbeststrukturzahl
• ASTM D5756-02(2008) Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie auf Asbestmassen-Oberfl?chenbeladung
• ASTM D5755-03 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberfl?chenbeladung von Asbest
• ASTM D5755-09 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberfl?chenbeladung von Asbest
• ASTM D5755-09(2014)e1 Standardtestmethode für die Probenahme im Mikrovakuum und die indirekte Analyse von Staub mittels Transmissionselektronenmikroskopie für die Strukturzahl-Oberfl?chenbeladung von Asbest
• ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückst?nden mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver R?ntgenspektrometrie
• ASTM D6056-96(2011) Standardtestverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• ASTM F1372-93(2012) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberfl?chenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
• ASTM F1372-93(2005) Standardtestmethode für die Rasterelektronenmikroskop-Analyse (REM) des metallischen Oberfl?chenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• IPC TM-650 2.6.22-1995 Akustische Mikroskopie für kunststoffverkapselte elektronische Komponenten

未注明發布機構, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualit?tsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips

國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• GB/T 35098-2018 Mikrostrahlanalyse – Transmissionselektronenmikroskopie – Morphologische Identifizierungsmethode von Pflanzenviren durch Transmissionselektronenmikroskopie

International Electrotechnical Commission (IEC), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• IEC PAS 62191:2000 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten
• ISO TS 22292:2021 Nanotechnologien – 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie

KR-KS, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
• KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgew?hlte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und überprüfung energiedispersiver R?ntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem

工業和信息化部, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• YB/T 4676-2018 Analyse ausgef?llter Phasen in Stahl mittels Transmissionselektronenmikroskopie

German Institute for Standardization, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
• DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
• DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
• DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
• DIN EN 60749-35:2007-03 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Akustische Mikroskopie für kunststoffgekapselte elektronische Bauteile (IEC 60749-35:2006); Deutsche Fassung EN 60749-35:2006

Association Francaise de Normalisation, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
• XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildsch?rfe
• NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF ISO 10312:2020 Umgebungsluft – Dosierung der Luftfasern – Methode der elektronischen Mikroskopie zur übertragung durch direkte übertragung
• NF X43-050:1996 Luftqualit?t. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.
• NF EN 60749-35:2006 Halbleiterbauelemente – Klimatische und mechanische Prüfverfahren – Teil 35: Akustische Mikroskopie für kunststoffummantelte elektronische Bauteile

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• GB/T 33839-2017 Methoden des Transmissionselektronenmikroskops für biologische Proben, die Kohlenstoffnanomaterialien mit biologischer Wirkung enthalten
• GB/T 34168-2017 Testmethode für die biologische Wirkung von Gold- und Silber-Nanopartikelmaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop

RU-GOST R, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
• GOST R 8.697-2010 Staatliches System zur Gew?hrleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Interpenarabst?nde in Kristallen. Verfahren zur Messung mittels Transmissionselektronenmikroskop

Danish Standards Foundation, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• DS/ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien – 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• DS/EN 60749-35:2007 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 35: Akustische Mikroskopie für kunststoffverkapselte elektronische Komponenten

IT-UNI, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• UNI 7604-1976 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten für die Mikrofraktographie-Untersuchung.
• UNI 7329-1974 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten zur Mikrostrukturuntersuchung.

ES-UNE, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
• UNE-EN 60749-35:2006 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 35: Akustische Mikroskopie für kunststoffgekapselte elektronische Komponenten (IEC 60749-35:2006) (Von AENOR im Januar 2007 gebilligt.)

European Committee for Standardization (CEN), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgr??en- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
• prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

AENOR, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
• UNE 77236:1999 UMGEBUNGSLUFT. BESTIMMUNG VON ASBESTFASERN. VERFAHREN DER DIREKTüBERTRAGUNGSELEKTRONENMIKROSKOPIE.

Lithuanian Standards Office , Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

AT-ON, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)

Professional Standard - Public Safety Standards, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückst?nde (SEM/EDS-Untersuchung)
• GA/T 823.3-2018 Methoden zur Untersuchung von Farbspuren in der Forensik Teil 3: Rasterelektronenmikroskopie/R?ntgenspektroskopie

BE-NBN, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten (Enth?lt ?nderung 1: Januar 2007)

American National Standards Institute （ANSI), Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• ANSI/ASTM D6059:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Rasterelektronenmikroskopie
• ANSI/ASTM D6056:2001 Testverfahren zur Bestimmung der Konzentration luftgetragener einkristalliner Keramikwhisker in der Arbeitsumgebung mittels Transmissionselektronenmikroskopie

BELST, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• STB 2210-2011 Nanogro?e Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Verfahren zur Bestimmung von Parametern mittels Rasterelektronenmikroskopie-Messungen
• STB 2209-2011 Nanogro?e Kohlenstoff- und Nicht-Kohlenstoffmaterialien und darauf basierende Verbundwerkstoffe. Die Technik zur Bestimmung der Elementzusammensetzung mithilfe von Rasterelektronenmikroskopie-Messungen

Professional Standard - Commodity Inspection, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• SN/T 2649.1-2010 Bestimmung von Asbest in Kosmetika für den Import und Export. Teil 1: R?ntgenbeugungs- und Rasterelektronenmikroskopie-Methode

IX-IX-IEC, Grundlagen der Elektronenmikroskopie

• IEC TS 62607-6-17:2023 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-17: Material auf Graphenbasis – Ordnungsparameter: R?ntgenbeugung und Transmissionselektronenmikroskopie

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