ZH
EN
KR
JP
RU
DEEscaneo de mediciones de la sonda Kelvin
Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin, Total: 41 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin son: Química analítica, óptica y medidas ópticas., Equipo óptico, Medidas lineales y angulares., Pruebas mecánicas, Educación, Metales no ferrosos, válvulas, Herramientas de máquina, Compatibilidad electromagnética (CEM), Sistemas de vehículos de carretera, Vocabularios, Pruebas no destructivas.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición
- GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
- GB/T 43845-2024 Método de medición de imágenes de campos magnéticos estáticos débiles basado en el escaneo de una sonda de nitrógeno vacante
- GB/T 17359-1998 Especificación general del análisis cuantitativo EDS de rayos X para EPMA y SEM
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2021 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
- KS V 7398-2007(2012) Válvulas de globo marinas de bronce 20 K
GSO, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- GSO ISO 11039:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
- OS GSO ISO 11039:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
- BH GSO ISO 11039:2015 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
- GSO ISO 11952:2015 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
- BH GSO ISO 11952:2017 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
- OS GSO ISO 11952:2015 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
SCC, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- VDI/VDE 2656 BLATT 1-2019 Determinación de medidas geométricas con microscopios de sonda de barrido - calibración de sistemas de medición
- 10/30199182 DC BS ISO 11039. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Medición de la tasa de deriva
Association of German Mechanical Engineers, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Determinación de cantidades geométricas mediante el uso de microscopios de sonda de barrido - Calibración de sistemas de medición
Professional Standard - Education, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
International Organization for Standardization (ISO), Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
- ISO 11952:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
- ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
- ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
- ISO 230-10:2011/Amd 1:2014 Código de ensayo para máquinas herramienta - Parte 10: Determinación del rendimiento de medición de los sistemas de palpación de máquinas herramienta de control numérico - Enmienda 1: Rendimiento de medición con sondas de exploración
RU-GOST R, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
- GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
Association Francaise de Normalisation, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- NF E60-100-10/A1:2014 Código de prueba para máquinas herramienta. Parte 10: determinación del rendimiento de medición de los sistemas de palpación de máquinas herramienta de control numérico. Enmienda 1: rendimiento de medición con sondas de escaneo.
British Standards Institution (BSI), Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- BS ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: Calibración de sistemas de medida
- BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
Society of Automotive Engineers (SAE), Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- SAE J1752/2-1995 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de escaneo de superficie (método de sonda en bucle) de 10 Mhz a 3 Ghz
- SAE J1752/2-2016 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
- SAE J1752-2-2003 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados Método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) 10 MHz a 3 GHz
- SAE J1752/2-2003 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de escaneo de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
- SAE J1752/2-2011 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
SAE - SAE International, Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- SAE J1752-2-2016 Medición de emisiones radiadas de circuitos integrados: método de exploración de superficie (método de sonda en bucle) de 10 MHz a 3 GHz
American Society for Testing and Materials (ASTM), Escaneo de mediciones de la sonda Kelvin
- ASTM E1813-96(2007) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
- ASTM E1813-96(2002) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
- ASTM E1813-96e1 Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido