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Parámetros de rejilla

Parámetros de rejilla, Total: 16 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Parámetros de rejilla son: óptica y medidas ópticas., Equipo óptico, Física. Química, Sistemas de automatización industrial.

Professional Standard - Machinery, Parámetros de rejilla

• JB/T 8239.1-1999 Parámetros básicos para la red de difracción.
• JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.
• JB/T 10080.1-2000 Lecturas digitales para transductor de rejilla.

RU-GOST R, Parámetros de rejilla

• GOST R 59738-2021 óptica y fotónica. Rejillas de difracción. Tipos, dimensiones principales y parámetros.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Parámetros de rejilla

• GB/Z 43684-2024 Nanotecnología Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas.

German Institute for Standardization, Parámetros de rejilla

• DIN IEC/TS 62622:2014-09*DIN SPEC 42622:2014-09 Nanotecnologías - Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales (IEC/TS 62622:2012)
• DIN IEC/TS 62622:2014*DIN SPEC 42622:2014 Nanotecnologías - Descripción, medida y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales

GSO, Parámetros de rejilla

• GSO IEC/TS 62622:2013 Rejillas artificiales utilizadas en nanotecnología. Descripción y medición de parámetros de calidad dimensional.
• BH GSO IEC/TS 62622:2016 Rejillas artificiales utilizadas en nanotecnología. Descripción y medición de parámetros de calidad dimensional.

SCC, Parámetros de rejilla

• BS PD IEC/TS 62622:2012 Nanotecnologías. Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales.

International Organization for Standardization (ISO), Parámetros de rejilla

• IEC TS 62622:2012 Rejillas artificiales utilizadas en nanotecnología. Descripción y medición de parámetros de calidad dimensional.
• IEC TS 62622:2012 Rejillas artificiales utilizadas en nanotecnología. Descripción y medición de parámetros de calidad dimensional.
• IEC/TS 62622:2012 Rejillas artificiales utilizadas en nanotecnología. Descripción y medición de parámetros de calidad dimensional.

KR-KS, Parámetros de rejilla

• KS C IEC TS 62622-2023 Nanotecnologías. Descripción, medida y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales.

British Standards Institution (BSI), Parámetros de rejilla

• PD IEC/TS 62622:2012 Nanotecnologías. Descripción, medición y parámetros de calidad dimensional de rejillas artificiales.

IEC - International Electrotechnical Commission, Parámetros de rejilla

• TS 62622-2012 Nanotecnologías – Descripción@ parámetros de medición y calidad dimensional de rejillas artificiales (Edición 1.0)

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