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テラヘルツ検出器の原理

テラヘルツ検出器の原理は全部で 11 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

テラヘルツ検出器の原理 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)において、これらの分類(lèi)：光學(xué)および光學(xué)測(cè)定、 醫(yī)療機(jī)器、 データストレージデバイス、 非破壊検査。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, テラヘルツ検出器の原理

• GB/T 43597-2023 焦電型テラヘルツ検出器のパラメータ試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, テラヘルツ検出器の原理

• T/GDKJ 0003-2022 テラヘルツ波?遠(yuǎn)赤外線(xiàn)経絡(luò)理學(xué)療法応用ガイド
• T/QGCML 4289-2024 テラヘルツスペクトルデータベースとデータ収集および処理仕様
• T/GDGAA 0005-2022 テラヘルツ分光法を用いた食品や醫(yī)薬品の一般的な判定方法
• T/CSTM 00416-2023 非破壊検査テラヘルツ時(shí)間領(lǐng)域分光検出?評(píng)価法
• T/GDGAA 0004-2022 テラヘルツ量子指紋漢方品質(zhì)管理?xiàng)食?分析システム
• T/CSTM 00433-2023 ムライト繊維複合材料接合界面の非破壊検査のためのテラヘルツ時(shí)間領(lǐng)域分光検出法

German Institute for Standardization, テラヘルツ検出器の原理

• DIN 50996:2020-05 非導(dǎo)電性被膜の被膜厚さの非破壊測(cè)定 テラヘルツ測(cè)定法
• DIN 50996 E:2019-06 非導(dǎo)電性皮膜 - 皮膜厚さの非破壊測(cè)定 - テラヘルツ測(cè)定法

SCC, テラヘルツ検出器の原理

• DIN 50996:2020 非導(dǎo)電性皮膜 - 皮膜厚さの非破壊測(cè)定 - テラヘルツ測(cè)定法
• DIN 50996 E:2019 文書(shū)草案 - 非導(dǎo)電性コーティング - コーティング厚さの非破壊測(cè)定 - テラヘルツ測(cè)定法

その他：   テラヘルツ検出器の原理, テラヘルツイメージングの原理, テラヘルツ放射の原理とその一部, テラヘルツ検出器の原理, テラヘルツ検出器 お問(wèn)い合わせ, テラヘルツ人體検知器, テラヘルツ分光法の原理, テラヘルツ検出器機(jī)能.