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賽默飛世爾科技（中國）有限公司
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賽默飛Apreo 2 SEM 場發射掃描電鏡
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設備更新推薦 賽默飛Apreo 2 SEM 場發射掃描電鏡

價格：面議
品牌：賽默飛 產地：美國 型號：Apreo 2 樣本：來電或留言獲取樣本
AI問答
  • 賽默飛Apreo2SEM場發射掃描電鏡價格？ 可以檢測什么？
  • 賽默飛Apreo2SEM場發射掃描電鏡參數規格？ 配套的耗材試劑？
  • 賽默飛Apreo2SEM場發射掃描電鏡操作規程？ 使用注意事項？

1.亞納米分辨力

2.豐富的探測器配置帶來多種成像模式

3.大工作距離仍能保持優異的分辨力

4.自動化和智能化的操作流程，電鏡新手也能輕松掌握


詳細介紹

掃描電鏡

Apreo 2 SEM場發射掃描電鏡

一款具備優異性能的多功能型成像及分析的掃描電鏡


聯系我們主要特點性能數據相關資源應用技術技術文件聯系我們

材料表征

先進的材料表征實驗室需要使用最新技術，且將分析儀器（包括 SEM掃描電鏡）的性能發揮到極致。這些實驗室中絕大多數都是多用戶使用，且不同用戶的經驗水平不盡相同，同時，掃描電鏡的上機時間非常寶貴，因此必須避免在維護、對中、培訓或圖像優化上花費過多時間。

全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可進行高分辨率成像，并且可以擴展至材料的元素分析。憑借獨特的實時元素成像功能，即 Thermo Scientific ColorSEM 技術，可以通過最直觀的界面實時獲取元素組分信息。ColorSEM 技術消除了與典型 EDS聯用的所有復雜操作，為您提供前所未有的快捷和易用性。

憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術（軟件自動光學對中），Apreo 2 SEM 對用戶和實驗室管理人員的要求非常低。此外，Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術，可實現自動電子束對中、消像散和聚焦等操作，這項技術的推出意味著即使是掃描電鏡的新手用戶也可以輕松獲得 Apreo 2 SEM 的極致性能。此外，Apreo 2 SEM 是唯一一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。大的工作距離不再意味著犧牲成像效果，使用 Apreo 2 SEM，任何人都能容易地獲得出色的結果。

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Apreo 2 SEM 視頻內容摘要

 優異的空間分辨率及襯度


Play VideoPlayMuteCurrent Time 0:00/Duration 0:25Loaded: 39.26% SharePicture-in-PictureFullscreen 廣泛的樣品適用性


Wide range of sample types 利用ColorSEM技術實時獲取定量能譜數據


Play VideoPlayMuteCurrent Time 0:00/Duration 0:59Loaded: 16.50% SharePicture-in-PictureFullscreen 快速簡便的樣品裝載過程


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網絡講座

  • 視頻

  • 圖片

    • 網絡講座：可配備ColorSEM技術的多功能型Apreo 2掃描電鏡

    這個網絡講座全面地介紹了Apreo 2 SEM 的特點和功能、ColorSEM技術以及Apreo 2的功能演示。通過本次網絡講座，您將會學習到：

    • Thermo Fisher Scientific最新分析型超高分辨率掃描電鏡

    • 了解Apreo 2 SEM的技術特點

    注冊觀看

    網絡講座：掃描電子顯微鏡：選擇適合您需求的技術

    這個網絡講座旨在幫助您確定哪掃描電鏡最符合您的獨特需求，介紹賽默飛世爾科技的掃描電鏡在不同場景下的多功能高性能應用，以及更快得到原位動態實驗結果等解決方案。如果您感興趣，請觀看該網絡講座。

    • 如何滿足不同微區分析模式的需求（EDS、EBSD、WDS、CL等）

    • 如何對樣品的原始狀態進行表征，無需進行樣品制備

    • 先進的自動化技術如何節省研究人員的時間并提高生產效率

    注冊觀看

    基礎材料研究

    越來越小的規模研究新型材料，以最大限度地控制其物理和化學特性。電子顯微鏡為研究人員提供了對微米到納米級各種材料特性的重要見解。

    使用電子顯微鏡進行質量控制和故障分析

    質量控制和故障分析

    質量控制和保證對于現代工業至關重要。我們提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM電子顯微鏡和光譜工具，使您可以為過程控制和改進做出可靠、明智的決策。

    半導體尋路

    半導體探索和開發

    先進的電子顯微鏡、聚焦離子束和相關半導體分析技術可用于識別制造高性能半導體器件的可行解決方案和設計方法。

    半導體良率提升和計量

    良率提升和計量

    我們為缺陷分析、計量學和工藝控制提供先進的分析功能，旨在幫助提高生產率并改善一系列半導體應用和設備的產量。

    半導體故障分析

    半導體故障分析

    越來越復雜的半導體器件結構導致更多隱藏故障引起的缺陷的位置。我們的新一代半導體分析工作流程可幫助您定位和表征影響量產、性能和可靠性的細微的電子問題。

    物理和化學表征

    物理和化學表征

    持續的消費者需求推動了創建更小型、更快和更便宜的電子設備。它們的生產依賴高效的儀器和工作流程，可對多種半導體和顯示設備進行電子顯微鏡成像、分析和表征。

    顯示設備故障分析

    顯示設備故障分析

    不斷發展的顯示技術旨在提高顯示質量和光轉換效率，以支持不同行業領域的應用，同時繼續降低生產成本。我們的過程計量、故障分析和研發解決方案幫助顯示公司解決這些挑戰。

     

    ChemiSEM

  • 能量色散譜

  • 對熱樣品進行成像

  • 陰極發光

  • 多尺度分析

  • 半導體 SEM 成像和分析

    • ColorSEM

    通過實時采集SEM和EDS信息以及實時定量功能，ColorSEM技術將SEM圖像轉化為彩色圖像?，F在任何用戶都可以實時獲取元素信息，得到比以往任何時候更多的完整信息。

    了解更多 ?

    Apreo 2 SEM 數據表

  • Apreo 2 手冊

  • 掃描電子顯微鏡手冊


    • 賽默飛Apreo 2 SEM 場發射掃描電鏡由賽默飛世爾科技（中國）有限公司 為您提供，如您想了解更多關于賽默飛Apreo 2 SEM 場發射掃描電鏡報價、參數等信息 ，歡迎來電或留言咨詢。

    注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。

    賽默飛世爾科技（中國）有限公司