GB/T 40293-2021
紅外硫系光學(xué)薄膜折射率測(cè)試方法
Test method for refractive index of infrared optical chalcogenide films
GBT40293-2021, GB40293-2021
說(shuō)明：
- 此圖僅顯示與當(dāng)前標(biāo)準(zhǔn)最近的5級(jí)引用；
- 鼠標(biāo)放置在圖上可以看到標(biāo)題編號(hào)；
- 此圖可以通過(guò)鼠標(biāo)滾輪放大或者縮小；
- 表示標(biāo)準(zhǔn)的節(jié)點(diǎn)，可以拖動(dòng)；
- 綠色表示標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 40293-2021 ， 綠色、紅色表示本平臺(tái)存在此標(biāo)準(zhǔn)，您可以下載或者購(gòu)買(mǎi)，灰色表示平臺(tái)不存在此標(biāo)準(zhǔn)；
- 箭頭終點(diǎn)方向的標(biāo)準(zhǔn)引用了起點(diǎn)方向的標(biāo)準(zhǔn)。
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- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- GB/T 40293-2021
- 別名
- GBT40293-2021
GB40293-2021 - 發(fā)布
- 2021年
- 總頁(yè)數(shù)
- 9頁(yè)
- 發(fā)布單位
- 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
- 當(dāng)前最新
- GB/T 40293-2021
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 33826-2017 GB/T 36969-2018
本標(biāo)準(zhǔn)描述了紅外硫系光學(xué)薄膜（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“薄膜”）折射率的測(cè)試原理、測(cè)試條件、儀器設(shè)備、樣品、測(cè)試步驟、數(shù)據(jù)處理與折射率計(jì)算、計(jì)算精度和測(cè)試報(bào)告。本標(biāo)準(zhǔn)適用于紅外硫系光學(xué)薄膜折射率的測(cè)試，其他光學(xué)薄膜折射率的測(cè)試可參照使用。
GB/T 40293-2021 中提到的儀器設(shè)備
| 分光光度計(jì) 光譜范圍覆蓋4000cm-1～50000cm-1（0.2μm～2.5μm）。 | 用于測(cè)量樣品在近紅外和可見(jiàn)光區(qū)域的光譜透射率。 |
| 觸針式輪廓儀 水平測(cè)量范圍為50μm～55mm，垂直測(cè)量范圍為5nm～250μm，垂直分辨力為0.1nm～0.6nm。 | 用于測(cè)量薄膜厚度。 |
| 原子力顯微鏡 最大水平掃描長(zhǎng)度為50μm，垂直掃描范圍大于3μm。 | 用于測(cè)量薄膜厚度。 |
| 傅里葉紅外光譜儀 分辨率優(yōu)于10cm-1，光譜范圍覆蓋800cm-1～4000cm-1（2.5μm～12.5μm）。 | 用于測(cè)量樣品在中紅外區(qū)域的光譜透射率。 |