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GB/T 40293-2021
紅外硫系光學(xué)薄膜折射率測試方法

Test method for refractive index of infrared optical chalcogenide films

GBT40293-2021, GB40293-2021


標(biāo)準(zhǔn)號
GB/T 40293-2021
別名
GBT40293-2021, GB40293-2021
發(fā)布
2021年
總頁數(shù)
9頁
發(fā)布單位
國家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB/T 40293-2021
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33826-2017 GB/T 36969-2018
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)描述了紅外硫系光學(xué)薄膜(以下簡稱“薄膜”)折射率的測試原理、測試條件、儀器設(shè)備、樣品、測試步驟、數(shù)據(jù)處理與折射率計算、計算精度和測試報告。本標(biāo)準(zhǔn)適用于紅外硫系光學(xué)薄膜折射率的測試,其他光學(xué)薄膜折射率的測試可參照使用。
術(shù)語描述
折射率
refractive index
光在真空中的傳播速率與在介質(zhì)中的傳播速率之比。
透射率
transmittance
透過的與入射的輻射能通量或光通量的光譜密集度之比,通常以百分比表示。
薄膜
thin film
一種覆蓋在襯底表面的極薄層材料,其厚度通常小于1微米。

GB/T 40293-2021 中提到的儀器設(shè)備

分光光度計
光譜范圍覆蓋4000cm-1~50000cm-1(0.2μm~2.5μm)。
用于測量樣品在近紅外和可見光區(qū)域的光譜透射率。
觸針式輪廓儀
水平測量范圍為50μm~55mm,垂直測量范圍為5nm~250μm,垂直分辨力為0.1nm~0.6nm。
用于測量薄膜厚度。
原子力顯微鏡
最大水平掃描長度為50μm,垂直掃描范圍大于3μm。
用于測量薄膜厚度。
傅里葉紅外光譜儀
分辨率優(yōu)于10cm-1,光譜范圍覆蓋800cm-1~4000cm-1(2.5μm~12.5μm)。
用于測量樣品在中紅外區(qū)域的光譜透射率。

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頁面更新時間: 2025-04-15 21:09