晶體材料的取向測試是材料科學中的重要研究方向,其精確測量對于半導體、磁性材料等領域具有重要意義。GB/T 37983—2019標準由中華人民共和國科學技術部提出,并由全國儀器分析測試標準化技術委員會歸口管理,充分體現了其在科學研究和工業應用中的核心地位。
技術原理 | 關鍵步驟 | 適用場景 |
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基于布拉格衍射定律的晶體取向測量 | 通過旋轉樣品并掃描衍射峰位置,計算晶面偏離角φ | 適用于高精度晶體材料測試 |
X射線衍射儀配合旋轉樣品臺 | 設置入射線和探測器夾角為2θ?,掃描θ范圍0°~100° | 多晶面測試與分析 |
傳統晶體取向測試方法通常依賴于手動操作和低精度設備,而GB/T 37983—2019通過引入旋轉樣品臺和自動化數據采集系統,顯著提升了測量效率和精度。該標準還結合了現代X射線衍射技術的最新進展,確保了其在科研和工業領域的廣泛應用。
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