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GB/T 37983-2019
晶體材料X射線衍射儀旋轉定向測試方法

Testing methods of X-ray diffraction for determining the orientation of crystal materials by rotation

GBT37983-2019, GB37983-2019


1. 標準制定背景與意義

晶體材料的取向測試是材料科學中的重要研究方向,其精確測量對于半導體、磁性材料等領域具有重要意義。GB/T 37983—2019標準由中華人民共和國科學技術部提出,并由全國儀器分析測試標準化技術委員會歸口管理,充分體現了其在科學研究和工業應用中的核心地位。

2. 技術原理與方法

技術原理 關鍵步驟 適用場景
基于布拉格衍射定律的晶體取向測量 通過旋轉樣品并掃描衍射峰位置,計算晶面偏離角φ 適用于高精度晶體材料測試
X射線衍射儀配合旋轉樣品臺 設置入射線和探測器夾角為2θ?,掃描θ范圍0°~100° 多晶面測試與分析

技術演進分析

傳統晶體取向測試方法通常依賴于手動操作和低精度設備,而GB/T 37983—2019通過引入旋轉樣品臺和自動化數據采集系統,顯著提升了測量效率和精度。該標準還結合了現代X射線衍射技術的最新進展,確保了其在科研和工業領域的廣泛應用。


3. 實施建議與注意事項

實施建議

  1. 儀器校準:確保X射線衍射儀和旋轉樣品臺的精度符合JB/T 9400—2010要求。
  2. 樣品準備:測試表面需平整且無污染,面積不小于5mm×5mm。
  3. 操作規范:嚴格按照標準步驟進行θ掃描和樣品旋轉,確保數據采集的準確性。

 

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GB/T 37983-2019

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標準號
GB/T 37983-2019
別名
GBT37983-2019
GB37983-2019
發布
2019年
總頁數
6頁
發布單位
國家質檢總局
當前最新
GB/T 37983-2019
 
 

本標準規定了使用X射線衍射儀,在測試中對樣品進行旋轉,從而確定晶體材料取向的測試方法。 本標準適用于晶體材料取向的測試。

術語 
晶體 crystal
晶面 crystallographic plane
晶面指數 crystal index
結晶學表示法 crystallographic notation
晶向偏離角 off-orientation angle

GB/T 37983-2019 中提到的儀器設備

X射線衍射儀 應配備可使測試樣品繞法線自轉的旋轉樣品臺,旋轉方向、速度可控,轉速范圍為60 r/min~120 r/min。
旋轉樣品臺 用于使樣品繞測試表面法線自轉的設備,轉速可調。

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